NVMe SSD热插拔测试方法、装置、设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210255032.0

申请日：

2022-03-16

公开(公告)号：

CN114356677B

公开(公告)日：

2022-04-15

发明(设计)人：

段波孙伟薛红军

申请人：

申请人地址：

100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-6号楼A座9层A905室

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

北京慧智兴达知识产权代理有限公司 11615

代理人：

李丽颖

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20220316
2022-06-07	授权	授权
2022-04-15	公开	公开

共 50 条

[1]

一种NVMe SSD热插拔测试方法、系统、装置及可读存储介质 [P].

马青岷 .

中国专利 :CN113656224A ,2021-11-16

[2]

一种NVMe SSD热插拔测试的方法及系统 [P].

亓浩 ;

赵帅 ;

张雪庆 ;

王洋 .

中国专利 :CN109032864A ,2018-12-18

[3]

一种NVMe SSD热插拔的测试方法及系统 [P].

亓浩 ;

赵帅 ;

肖占慧 ;

孙昊 ;

姜洪正 .

中国专利 :CN109189621A ,2019-01-11

[4]

NVME热插拔的处理方法、BMC、装置、设备及介质 [P].

王启勇 .

中国专利 :CN113656339B ,2024-02-02

[5]

NVME热插拔的处理方法、BMC、装置、设备及介质 [P].

王启勇 .

中国专利 :CN113656339A ,2021-11-16

[6]

SSD异常掉电测试方法、装置、存储介质及SSD设备 [P].

伏敏敏 ;

薛红军 ;

孙伟 .

中国专利 :CN114496058A ,2022-05-13

[7]

PCIe分线器热插拔测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

亓浩 ;

肖占慧 .

中国专利 :CN111966545A ,2020-11-20

[8]

芯片内部SRAM测试方法、装置、存储介质及SSD设备 [P].

刘昆 ;

孙丽华 ;

陈力 .

中国专利 :CN114639439A ,2022-06-17

[9]

电池监控芯片热插拔测试方法、系统、设备及存储介质 [P].

李俊舟 .

中国专利 :CN119846434A ,2025-04-18

[10]

一种热插拔实现方法、终端及存储介质 [P].

谭凯 .

中国专利 :CN108121681A ,2018-06-05

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