ATE测试设备、测试方法、测试系统及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210478861.5

申请日：

2022-04-28

公开(公告)号：

CN114779052A

公开(公告)日：

2022-07-22

发明(设计)人：

刘吉平瞿驰王翔

申请人：

申请人地址：

518116 广东省深圳市龙岗区平湖街道禾花社区平吉大道北159号恒路E时代大厦2201

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651

代理人：

辛鸿飞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20220428
2022-07-22	公开	公开

共 50 条

[1]

ATE测试方法、ATE测试系统、电子设备及存储介质 [P].

杨自洪 ;

余琨 ;

王华 ;

顾良波 ;

严高建 .

中国专利 :CN117406063A ,2024-01-16

[2]

ATE测试工程转换方法、装置、ATE测试设备及存储介质 [P].

周亮 ;

李洪 ;

黄俊锋 ;

柳承台 .

中国专利 :CN117741391A ,2024-03-22

[3]

测试系统、测试方法、测试设备及存储介质 [P].

陈增亮 ;

李安平 ;

李晓白 ;

刘乐 ;

赵海洋 ;

梅利文 ;

王伟 .

中国专利 :CN118625098A ,2024-09-10

[4]

存储设备测试方法及测试系统、存储介质 [P].

黄学楼 ;

蔡文浩 ;

卢小刚 ;

黄成权 ;

林思源 ;

吴锦龙 ;

张霖 ;

陈东林 .

中国专利 :CN120220786A ,2025-06-27

[5]

存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质 [P].

张辉 .

中国专利 :CN109446013B ,2019-03-08

[6]

测试方法、测试设备及存储介质 [P].

王威 ;

曾兴涛 ;

潘波 ;

杜梦媛 .

中国专利 :CN118427033A ,2024-08-02

[7]

测试方法、测试设备及存储介质 [P].

王威 ;

曾兴涛 ;

潘波 ;

杜梦媛 .

中国专利 :CN118427033B ,2024-10-29

[8]

遥测设备的测试方法、测试设备、测试系统及存储介质 [P].

席珺琳 ;

古雅倩 ;

刘金荷 ;

方鑫 ;

吴佳杰 .

中国专利 :CN118659827A ,2024-09-17

[9]

测试方法、测试系统及存储介质 [P].

薛喜柱 ;

林本聪 ;

刘兵 ;

张光力 ;

罗相诚 ;

李劲松 ;

洪晓城 ;

胡剑锋 ;

叶浩林 ;

麻亚翰 .

中国专利 :CN119643955A ,2025-03-18

[10]

测试方法、测试系统及存储介质 [P].

薛喜柱 ;

林本聪 ;

刘兵 ;

张光力 ;

罗相诚 ;

李劲松 ;

洪晓城 ;

胡剑锋 ;

叶浩林 ;

麻亚翰 .

中国专利 :CN119643955B ,2025-05-09

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