ATE测试工程转换方法、装置、ATE测试设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311503324.2

申请日：

2023-11-09

公开(公告)号：

CN117741391A

公开(公告)日：

2024-03-22

发明(设计)人：

周亮李洪黄俊锋柳承台

申请人：

深圳市辰卓科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园301-1

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G06F40/253

代理机构：

深圳五邻知识产权代理事务所(普通合伙) 44590

代理人：

胡明

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-21	著录事项变更	著录事项变更IPC(主分类):G01R 31/28变更事项:申请人变更前:深圳市辰卓科技股份有限公司变更后:深圳市辰卓科技股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市南山区西丽街道茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园301-1变更后:518100 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区蛇口南海大道1057号科技大厦二期B座科技大厦二期B栋301
2024-03-22	公开	公开
2025-08-22	著录事项变更	著录事项变更IPC(主分类):G01R 31/28变更事项:申请人变更前:深圳市辰卓科技有限公司变更后:深圳市辰卓科技股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市南山区西丽街道茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园301-1变更后:518000 广东省深圳市南山区西丽街道茶光路1089号深圳集成电路设计应用产业园301-1
2024-04-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231109

共 50 条

[1]

ATE测试设备、测试方法、测试系统及存储介质 [P].

刘吉平 ;

瞿驰 ;

王翔 .

中国专利 :CN114779052A ,2022-07-22

[2]

ATE测试方法、ATE测试系统、电子设备及存储介质 [P].

杨自洪 ;

余琨 ;

王华 ;

顾良波 ;

严高建 .

中国专利 :CN117406063A ,2024-01-16

[3]

ATE测试装置及ATE测试设备 [P].

韩波 ;

张俨 ;

蒋佳华 ;

吴壬华 .

中国专利 :CN217404335U ,2022-09-09

[4]

ATE测试结果判断方法及ATE测试方法 [P].

曲芳 ;

赵伟 ;

孙国强 ;

赵厚鑫 ;

陆晔 ;

刘岩 ;

翁雷 .

中国专利 :CN102788951A ,2012-11-21

[5]

FPGA平台、ATE测试设备和ATE测试设备控制方法 [P].

郭寂波 .

中国专利 :CN118535396A ,2024-08-23

[6]

ATE测试通道资源配置方法、装置、设备及存储介质 [P].

崔爱辉 .

中国专利 :CN114252758A ,2022-03-29

[7]

ATE测试板及ATE测试板的制造方法 [P].

王琪 ;

袁凯华 .

中国专利 :CN113267659A ,2021-08-17

[8]

ATE测试通道资源配置方法、装置、设备及存储介质 [P].

崔爱辉 .

中国专利 :CN114252758B ,2024-12-06

[9]

ATE测试板及ATE测试板的制造方法 [P].

王琪 ;

袁凯华 .

中国专利 :CN113267659B ,2024-06-21

[10]

测试结果确定方法、装置、ATE设备及可读存储介质 [P].

徐康成 .

中国专利 :CN117949804A ,2024-04-30

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