可自校准内部晶振的芯片、晶振校准测试系统及校准方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110365892.1

申请日：

2011-11-17

公开(公告)号：

CN103116124B

公开(公告)日：

2013-05-22

发明(设计)人：

石道林

申请人：

申请人地址：

518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区深圳软件园3栋301、302

IPC主分类号：

G01R313193

IPC分类号：

代理机构：

深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281

代理人：

薛祥辉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-09-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101523728603 IPC(主分类):G01R 31/3193 专利申请号:2011103658921 申请日:20111117
2016-05-18	授权	授权
2013-05-22	公开	公开

共 50 条

[1]

射频芯片量产校准测试系统及方法 [P].

李国旦 .

中国专利 :CN119667433A ,2025-03-21

[2]

校准测试系统及校准测试设备 [P].

李东辉 ;

王永超 .

中国专利 :CN120652946A ,2025-09-16

[3]

芯片测试系统的校准方法和校准件 [P].

胡伟 ;

徐凌 ;

陈喜凤 .

中国专利 :CN120559558A ,2025-08-29

[4]

校准设备、校准系统及校准方法 [P].

金方晓 ;

王莉 .

中国专利 :CN104539377B ,2015-04-22

[5]

卫星磁场测试系统校准装置及校准方法 [P].

吴卫权 ;

王钦 ;

柳金生 ;

孙晓春 ;

王浩 ;

王韬 ;

曹熙丹 .

中国专利 :CN105259529A ,2016-01-20

[6]

一种晶振芯片的测试系统 [P].

邓宏民 ;

罗益 .

中国专利 :CN217133313U ,2022-08-05

[7]

用于测试系统的校准设备和校准方法 [P].

Y·余 .

德国专利 :CN117728900A ,2024-03-19

[8]

自动校准的静电测试系统及其校准方法、测试方法 [P].

娄建华 .

中国专利 :CN115219974B ,2022-12-09

[9]

获取WiFi校准数据的方法、装置及WiFi设备校准测试系统 [P].

雷海波 .

中国专利 :CN113766554B ,2024-10-11

[10]

获取WiFi校准数据的方法、装置及WiFi设备校准测试系统 [P].

雷海波 .

中国专利 :CN113766554A ,2021-12-07

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