一种晶振芯片的测试系统

被引：0

申请号：

CN202220427969.7

申请日：

2022-03-01

公开(公告)号：

CN217133313U

公开(公告)日：

2022-08-05

发明(设计)人：

邓宏民罗益

申请人：

申请人地址：

400800 重庆市綦江区万盛经开区鱼田堡高新技术产业园

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

重庆渝之知识产权代理有限公司 50249

代理人：

周身彪

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-05	授权	授权

共 50 条

[1]

一种晶振芯片的刻录装置 [P].

邓宏民 ;

罗益 .

中国专利 :CN216901631U ,2022-07-05

[2]

一种晶振芯片测试方法 [P].

金凯 ;

吴中林 ;

林立青 ;

陈定夫 .

中国专利 :CN121208602A ,2025-12-26

[3]

一种差分晶振芯片及晶片的复合测试系统 [P].

邓宏民 ;

邢越 ;

刘峰 .

中国专利 :CN119619804A ,2025-03-14

[4]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[5]

一种晶振频率测试系统 [P].

黄和聪 ;

张国忠 ;

杨连池 .

中国专利 :CN204287321U ,2015-04-22

[6]

一种芯片老化测试系统 [P].

马云龙 ;

程莹 .

中国专利 :CN217787292U ,2022-11-11

[7]

一种测试配置多种通讯协议的系统芯片的测试系统 [P].

李鑫 ;

朱天成 ;

杨阳 ;

郑炜 ;

李岩 ;

魏赫颖 ;

王森 .

中国专利 :CN205176829U ,2016-04-20

[8]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[9]

芯片测试系统 [P].

陈超村 ;

郑挺 ;

郑朝生 ;

张亦锋 .

中国专利 :CN216956254U ,2022-07-12

[10]

一种芯片测试系统和方法 [P].

柯小青 ;

季翔宇 ;

任殿升 ;

关皓伟 ;

周大锋 .

中国专利 :CN114325355B ,2024-08-27

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