芯片测试系统

被引：0

申请号：

CN202123063120.0

申请日：

2021-12-07

公开(公告)号：

CN216956254U

公开(公告)日：

2022-07-12

发明(设计)人：

陈超村郑挺郑朝生张亦锋

申请人：

申请人地址：

523000 广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

张艳美;刘光明

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-12	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[2]

芯片测试夹具及芯片测试系统 [P].

高琳 ;

王永康 ;

丁庆 .

中国专利 :CN205861729U ,2017-01-04

[3]

芯片测试组件以及芯片测试系统 [P].

李哲 ;

李军 ;

李春生 ;

王巧云 ;

杨凌冈 ;

张晶 .

中国专利 :CN218158211U ,2022-12-27

[4]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[5]

芯片测试结构以及芯片测试系统 [P].

邹玉生 ;

裴聪健 .

中国专利 :CN217213013U ,2022-08-16

[6]

芯片测试电路和芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28

[7]

芯片测试系统 [P].

王茂海 .

中国专利 :CN202815170U ,2013-03-20

[8]

芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN114446808B ,2025-08-05

[9]

芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN114446808A ,2022-05-06

[10]

芯片测试系统 [P].

王明生 ;

张忠华 ;

唐兴华 ;

胡娟 .

中国专利 :CN203084153U ,2013-07-24

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