芯片测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220659596.2

申请日：

2012-12-04

公开(公告)号：

CN203084153U

公开(公告)日：

2013-07-24

发明(设计)人：

王明生张忠华唐兴华胡娟

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区蛇口后海大道东角头东南工贸大厦5楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人：

刘健;黄韧敏

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-07-24	授权	授权
2022-12-20	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20121204 授权公告日:20130724

共 50 条

[1]

一种芯片测试系统 [P].

陈波 .

中国专利 :CN216622597U ,2022-05-27

[2]

芯片测试夹具及芯片测试系统 [P].

高琳 ;

王永康 ;

丁庆 .

中国专利 :CN205861729U ,2017-01-04

[3]

芯片测试组件以及芯片测试系统 [P].

李哲 ;

李军 ;

李春生 ;

王巧云 ;

杨凌冈 ;

张晶 .

中国专利 :CN218158211U ,2022-12-27

[4]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[5]

芯片测试电路和芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28

[6]

芯片测试系统 [P].

马茂松 ;

林峰 ;

许小峰 .

中国专利 :CN210835151U ,2020-06-23

[7]

芯片测试系统 [P].

阚博涵 ;

杨真 ;

彭燕鸿 .

中国专利 :CN212180962U ,2020-12-18

[8]

芯片测试系统 [P].

冯利民 ;

张磊 .

中国专利 :CN215986199U ,2022-03-08

[9]

芯片测试方法和芯片测试系统 [P].

张伟军 ;

曹凡利 ;

刘华祥 ;

刘琨 .

中国专利 :CN119644121A ,2025-03-18

[10]

芯片测试系统 [P].

陈超村 ;

郑挺 ;

郑朝生 ;

张亦锋 .

中国专利 :CN216956254U ,2022-07-12

← 1 2 3 4 5 →