芯片测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121551163.0

申请日：

2021-07-08

公开(公告)号：

CN215986199U

公开(公告)日：

2022-03-08

发明(设计)人：

冯利民张磊

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R104 G01R3128 G01N2188 G01B1100

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

唐清凯

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-08	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试夹具及芯片测试系统 [P].

高琳 ;

王永康 ;

丁庆 .

中国专利 :CN205861729U ,2017-01-04

[2]

芯片测试组件以及芯片测试系统 [P].

李哲 ;

李军 ;

李春生 ;

王巧云 ;

杨凌冈 ;

张晶 .

中国专利 :CN218158211U ,2022-12-27

[3]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[4]

芯片测试电路和芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28

[5]

芯片测试系统 [P].

王明生 ;

张忠华 ;

唐兴华 ;

胡娟 .

中国专利 :CN203084153U ,2013-07-24

[6]

芯片测试系统 [P].

马茂松 ;

林峰 ;

许小峰 .

中国专利 :CN210835151U ,2020-06-23

[7]

芯片测试系统 [P].

阚博涵 ;

杨真 ;

彭燕鸿 .

中国专利 :CN212180962U ,2020-12-18

[8]

芯片测试系统 [P].

陈超村 ;

郑挺 ;

郑朝生 ;

张亦锋 .

中国专利 :CN216956254U ,2022-07-12

[9]

芯片测试系统 [P].

高上彬 .

中国专利 :CN223597823U ,2025-11-25

[10]

芯片测试系统 [P].

万利剑 .

中国专利 :CN205826813U ,2016-12-21

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