芯片测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011203917.3
申请日
2020-11-02
公开(公告)号
CN114446808B
公开(公告)日
2025-08-05
发明(设计)人
蔡振龙 基因·罗森塔尔
申请人
第一检测有限公司
申请人地址
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
H01L21/66
IPC分类号
H01L21/67 H01L21/677
代理机构
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
聂慧荃;闫华
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN114446808A ,2022-05-06
[2]
芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN112309487A ,2021-02-02
[3]
芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
美国专利 :CN112309487B ,2024-04-12
[4]
芯片测试方法 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
美国专利 :CN112309488B ,2024-04-12
[5]
芯片测试方法 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN112309488A ,2021-02-02
[6]
测试芯片及其芯片测试系统 [P]. 
罗仁鸿 .
中国专利 :CN102788947A ,2012-11-21
[7]
芯片测试板及芯片测试系统 [P]. 
王华 ;
刘远华 ;
王锦 ;
季海英 ;
邓维维 ;
郝丹丹 .
中国专利 :CN104316731A ,2015-01-28
[8]
芯片测试结构以及芯片测试系统 [P]. 
邹玉生 ;
裴聪健 .
中国专利 :CN217213013U ,2022-08-16
[9]
芯片测试系统 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN208953666U ,2019-06-07
[10]
芯片测试系统 [P]. 
陈超村 ;
郑挺 ;
郑朝生 ;
张亦锋 .
中国专利 :CN216956254U ,2022-07-12