IPC分类号:
H01L21/67
H01L21/677
共 50 条
[1]
芯片测试系统
[P].
中国专利 :CN114446808A ,2022-05-06 [2]
芯片测试系统
[P].
中国专利 :CN112309487A ,2021-02-02 [3]
芯片测试系统
[P].
蔡振龙
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
蔡振龙
;
基因·罗森塔尔
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
基因·罗森塔尔
.
美国专利 :CN112309487B ,2024-04-12 [4]
芯片测试方法
[P].
蔡振龙
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
蔡振龙
;
基因·罗森塔尔
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
基因·罗森塔尔
.
美国专利 :CN112309488B ,2024-04-12 [5]
芯片测试方法
[P].
中国专利 :CN112309488A ,2021-02-02 [9]
芯片测试系统
[P].
中国专利 :CN208953666U ,2019-06-07 [10]
芯片测试系统
[P].
中国专利 :CN216956254U ,2022-07-12