共 50 条
[1]
芯片测试系统
[P].
中国专利 :CN112309487A ,2021-02-02 [2]
芯片测试方法
[P].
蔡振龙
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
蔡振龙
;
基因·罗森塔尔
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
基因·罗森塔尔
.
美国专利 :CN112309488B ,2024-04-12 [3]
芯片测试方法
[P].
中国专利 :CN112309488A ,2021-02-02 [5]
环境控制设备及芯片测试系统
[P].
蔡振龙
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
蔡振龙
;
基因·罗森塔尔
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
基因·罗森塔尔
.
美国专利 :CN113740701B ,2024-03-08 [7]
环境控制设备及芯片测试系统
[P].
蔡振龙
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
蔡振龙
;
基因·罗森塔尔
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
基因·罗森塔尔
.
美国专利 :CN112798922B ,2024-09-10 [8]
芯片测试系统
[P].
蔡振龙
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
蔡振龙
;
基因·罗森塔尔
论文数: 0 引用数: 0
h-index: 0
机构:
第一检测有限公司
第一检测有限公司
基因·罗森塔尔
.
美国专利 :CN114446808B ,2025-08-05 [9]
芯片测试系统
[P].
中国专利 :CN114446808A ,2022-05-06