芯片测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910682969.4
申请日
2019-07-26
公开(公告)号
CN112309487B
公开(公告)日
2024-04-12
发明(设计)人
蔡振龙 基因·罗森塔尔
申请人
第一检测有限公司
申请人地址
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
G11C29/56
IPC分类号
B07C5/344
代理机构
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
傅磊;闫华
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN112309487A ,2021-02-02
[2]
芯片测试方法 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
美国专利 :CN112309488B ,2024-04-12
[3]
芯片测试方法 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN112309488A ,2021-02-02
[4]
环境控制设备及芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN112798922A ,2021-05-14
[5]
环境控制设备及芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
美国专利 :CN113740701B ,2024-03-08
[6]
环境控制设备及芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN113740701A ,2021-12-03
[7]
环境控制设备及芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
美国专利 :CN112798922B ,2024-09-10
[8]
芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
美国专利 :CN114446808B ,2025-08-05
[9]
芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN114446808A ,2022-05-06
[10]
芯片测试装置及芯片测试系统 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN112802536A ,2021-05-14