一种晶振频率测试系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201420819524.9
申请日
2014-12-22
公开(公告)号
CN204287321U
公开(公告)日
2015-04-22
发明(设计)人
黄和聪 张国忠 杨连池
申请人
申请人地址
361000 福建省厦门市火炬高新区火炬园嘉禾路588号第七层
IPC主分类号
G01R2302
IPC分类号
代理机构
厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218
代理人
方惠春
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种压控晶振频率测试系统及方案 [P]. 
唐立 .
中国专利 :CN112595890B ,2024-04-02
[2]
一种压控晶振频率测试系统及方案 [P]. 
唐立 .
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[3]
一种晶振频率测试装置 [P]. 
袁志鸿 ;
孙平 ;
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中国专利 :CN201477155U ,2010-05-19
[4]
一种天线谐振频率测试系统 [P]. 
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申中美 ;
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[5]
一种微波频率测试系统 [P]. 
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[6]
频率测试仪及频率测试系统 [P]. 
谢兴华 .
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[7]
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郑维宏 .
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[8]
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曹明玉 ;
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[9]
一种振膜频率测试装置 [P]. 
曹明玉 ;
王培涛 .
中国专利 :CN205246207U ,2016-05-18
[10]
一种晶振芯片的测试系统 [P]. 
邓宏民 ;
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