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一种晶振频率测试系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201420819524.9
申请日
:
2014-12-22
公开(公告)号
:
CN204287321U
公开(公告)日
:
2015-04-22
发明(设计)人
:
黄和聪
张国忠
杨连池
申请人
:
申请人地址
:
361000 福建省厦门市火炬高新区火炬园嘉禾路588号第七层
IPC主分类号
:
G01R2302
IPC分类号
:
代理机构
:
厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218
代理人
:
方惠春
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2015-04-22
授权
授权
共 50 条
[1]
一种压控晶振频率测试系统及方案
[P].
唐立
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
成都恒晶科技有限公司
成都恒晶科技有限公司
唐立
.
中国专利
:CN112595890B
,2024-04-02
[2]
一种压控晶振频率测试系统及方案
[P].
唐立
论文数:
0
引用数:
0
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0
唐立
.
中国专利
:CN112595890A
,2021-04-02
[3]
一种晶振频率测试装置
[P].
袁志鸿
论文数:
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袁志鸿
;
孙平
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孙平
;
刘文燕
论文数:
0
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刘文燕
.
中国专利
:CN201477155U
,2010-05-19
[4]
一种天线谐振频率测试系统
[P].
余强
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余强
;
申中美
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申中美
;
宋豪杰
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宋豪杰
.
中国专利
:CN201293807Y
,2009-08-19
[5]
一种微波频率测试系统
[P].
李荣明
论文数:
0
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0
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李荣明
.
中国专利
:CN206740855U
,2017-12-12
[6]
频率测试仪及频率测试系统
[P].
谢兴华
论文数:
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谢兴华
.
中国专利
:CN105807134A
,2016-07-27
[7]
一种晶振频率测量系统
[P].
荆亮
论文数:
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荆亮
;
郑维宏
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郑维宏
.
中国专利
:CN210742385U
,2020-06-12
[8]
一种振膜频率测试装置
[P].
曹明玉
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曹明玉
;
王培涛
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王培涛
.
中国专利
:CN205300750U
,2016-06-08
[9]
一种振膜频率测试装置
[P].
曹明玉
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曹明玉
;
王培涛
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王培涛
.
中国专利
:CN205246207U
,2016-05-18
[10]
一种晶振芯片的测试系统
[P].
邓宏民
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邓宏民
;
罗益
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罗益
.
中国专利
:CN217133313U
,2022-08-05
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