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一种芯片光学检测设备
被引:0
申请号
:
CN202122699315.8
申请日
:
2021-11-05
公开(公告)号
:
CN216284900U
公开(公告)日
:
2022-04-12
发明(设计)人
:
赖勉力
汪利军
申请人
:
申请人地址
:
315300 浙江省宁波市慈溪市白沙路街道三北大街2588号B幢8楼803室
IPC主分类号
:
G01N2113
IPC分类号
:
代理机构
:
合肥初航知识产权代理事务所(普通合伙) 34171
代理人
:
金娟娟
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-12
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片支架光学检测设备
[P].
赖勉力
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0
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0
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赖勉力
;
汪利军
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汪利军
.
中国专利
:CN216117375U
,2022-03-22
[2]
芯片光学检测设备
[P].
杨建设
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
杨建设
;
张雅凯
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
张雅凯
;
向泉明
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
向泉明
.
中国专利
:CN220559856U
,2024-03-08
[3]
一种光学摄像头的光学检测设备
[P].
程林梦
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机构:
深圳市虹霞光学科技有限公司
深圳市虹霞光学科技有限公司
程林梦
;
李青青
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机构:
深圳市虹霞光学科技有限公司
深圳市虹霞光学科技有限公司
李青青
.
中国专利
:CN222618184U
,2025-03-14
[4]
一种光学芯片检测设备
[P].
钟浩
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机构:
半影光学(南通)有限公司
半影光学(南通)有限公司
钟浩
;
王亮
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机构:
半影光学(南通)有限公司
半影光学(南通)有限公司
王亮
.
中国专利
:CN222299118U
,2025-01-03
[5]
一种光学检测设备
[P].
邹建文
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邹建文
;
孙鹏
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孙鹏
;
梁加强
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梁加强
;
杜荣钦
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杜荣钦
;
马国东
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马国东
;
尹建刚
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尹建刚
;
高云峰
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高云峰
.
中国专利
:CN206959889U
,2018-02-02
[6]
一种光学检测设备
[P].
李雷
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李雷
;
陈博
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陈博
.
中国专利
:CN205785762U
,2016-12-07
[7]
一种光学检测设备
[P].
刘辉
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刘辉
;
吴海洋
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吴海洋
.
中国专利
:CN210571302U
,2020-05-19
[8]
一种光学检测设备
[P].
骆磊
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骆磊
;
牟涛涛
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牟涛涛
;
迟雪
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迟雪
.
中国专利
:CN208547562U
,2019-02-26
[9]
芯片光学检测设备
[P].
杨建设
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
杨建设
;
张雅凯
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
张雅凯
;
向泉明
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
向泉明
.
中国专利
:CN119426198A
,2025-02-14
[10]
一种新型光学检测设备
[P].
郭新忠
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郭新忠
.
中国专利
:CN208155839U
,2018-11-27
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