一种光学芯片检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421128153.X

申请日：

2024-05-22

公开(公告)号：

CN222299118U

公开(公告)日：

2025-01-03

发明(设计)人：

钟浩王亮

申请人：

半影光学（南通）有限公司

申请人地址：

226100 江苏省南通市海门区滨江街道烟台路333-1号

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

B25B11/00

代理机构：

苏州君磊知识产权代理事务所(普通合伙) 32695

代理人：

黄新民

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-03	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片光学检测设备 [P].

赖勉力 ;

汪利军 .

中国专利 :CN216284900U ,2022-04-12

[2]

一种芯片支架光学检测设备 [P].

赖勉力 ;

汪利军 .

中国专利 :CN216117375U ,2022-03-22

[3]

芯片光学检测设备 [P].

杨建设 ;

张雅凯 ;

向泉明 .

中国专利 :CN220559856U ,2024-03-08

[4]

一种光学检测设备 [P].

邹建文 ;

孙鹏 ;

梁加强 ;

杜荣钦 ;

马国东 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206959889U ,2018-02-02

[5]

一种光学检测设备 [P].

李雷 ;

陈博 .

中国专利 :CN205785762U ,2016-12-07

[6]

一种光学检测设备 [P].

刘辉 ;

吴海洋 .

中国专利 :CN210571302U ,2020-05-19

[7]

一种光学检测设备 [P].

骆磊 ;

牟涛涛 ;

迟雪 .

中国专利 :CN208547562U ,2019-02-26

[8]

芯片光学检测设备 [P].

杨建设 ;

张雅凯 ;

向泉明 .

中国专利 :CN119426198A ,2025-02-14

[9]

一种电子芯片检测设备 [P].

李越 .

中国专利 :CN223332912U ,2025-09-12

[10]

一种芯片外观检测设备 [P].

刘炎 ;

胡翔 .

中国专利 :CN220678616U ,2024-03-29

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