一种芯片外观检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202321977964.2

申请日：

2023-07-25

公开(公告)号：

CN220678616U

公开(公告)日：

2024-03-29

发明(设计)人：

刘炎胡翔

申请人：

深圳市旺弘科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区民治街道新牛社区民治大道牛栏前大厦A1014

IPC主分类号：

B07C5/02

IPC分类号：

B07C5/342 B07C5/36

代理机构：

深圳市深联知识产权代理事务所(普通合伙) 44357

代理人：

黄立强

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种外观检测设备 [P].

李强 ;

李金才 ;

常浩 ;

李朋辉 ;

卢亚宾 ;

金鳞 .

中国专利 :CN209841718U ,2019-12-24

[2]

一种外观检测设备 [P].

陈睿 ;

赵建苹 .

中国专利 :CN220419189U ,2024-01-30

[3]

一种芯片外观检测设备 [P].

韩骏 .

中国专利 :CN210207695U ,2020-03-31

[4]

一种芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN222970389U ,2025-06-13

[5]

一种芯片外观检测设备 [P].

杨建设 ;

张雅凯 .

中国专利 :CN217304946U ,2022-08-26

[6]

一种CCD外观检测设备 [P].

江胜虎 .

中国专利 :CN210322837U ,2020-04-14

[7]

一种产品外观检测设备 [P].

耿广战 .

中国专利 :CN217212295U ,2022-08-16

[8]

一种智能外观检测设备 [P].

张西振 .

中国专利 :CN218412245U ,2023-01-31

[9]

外观检测设备 [P].

钱曙光 ;

汪炉生 ;

朱文兵 ;

罗时帅 ;

柳洪哲 ;

钱根 ;

柳云鸿 ;

高晓龙 .

中国专利 :CN221630636U ,2024-08-30

[10]

一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备 [P].

邹巍 ;

庄彤 ;

欧阳衡 ;

钟建平 ;

刘兵生 ;

王志威 .

中国专利 :CN117538258A ,2024-02-09

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