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一种芯片外观检测设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201920777005.3
申请日
:
2019-05-28
公开(公告)号
:
CN210207695U
公开(公告)日
:
2020-03-31
发明(设计)人
:
韩骏
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1433号
IPC主分类号
:
B07C502
IPC分类号
:
B07C534
B07C536
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-17
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):B07C 5/02 申请日:20190528 授权公告日:20200331 终止日期:20210528
2020-03-31
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片外观检测设备
[P].
韩骏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩骏
.
中国专利
:CN110153023A
,2019-08-23
[2]
一种芯片外观检测设备
[P].
夏俊杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
夏俊杰
;
林华胜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
林华胜
;
顾红伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
顾红伟
.
中国专利
:CN222970389U
,2025-06-13
[3]
一种芯片外观检测设备
[P].
杨建设
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨建设
;
张雅凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张雅凯
.
中国专利
:CN217304946U
,2022-08-26
[4]
一种芯片外观检测设备
[P].
刘炎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市旺弘科技有限公司
深圳市旺弘科技有限公司
刘炎
;
胡翔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市旺弘科技有限公司
深圳市旺弘科技有限公司
胡翔
.
中国专利
:CN220678616U
,2024-03-29
[5]
一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备
[P].
邹巍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
邹巍
;
庄彤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
庄彤
;
欧阳衡
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
欧阳衡
;
钟建平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
钟建平
;
刘兵生
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
刘兵生
;
王志威
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
王志威
.
中国专利
:CN117538258A
,2024-02-09
[6]
一种用于检测芯片的外观检测装置及外观检测设备
[P].
姚发贵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
姚发贵
;
栾俊平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
栾俊平
;
欧远鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
欧远鹏
;
蒋建华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
蒋建华
;
李土轩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李土轩
;
余国弟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
余国弟
;
黎勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黎勇
.
中国专利
:CN215003700U
,2021-12-03
[7]
一种芯片外观缺陷检测装置
[P].
刘曜轩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州威达智科技股份有限公司
苏州威达智科技股份有限公司
刘曜轩
;
袁忠华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州威达智科技股份有限公司
苏州威达智科技股份有限公司
袁忠华
;
李春凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州威达智科技股份有限公司
苏州威达智科技股份有限公司
李春凯
.
中国专利
:CN223551616U
,2025-11-14
[8]
一种PCB板外观检测设备
[P].
史金屏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市赛华检测技术有限公司
深圳市赛华检测技术有限公司
史金屏
.
中国专利
:CN221506674U
,2024-08-09
[9]
一种外观检测设备
[P].
陈磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江智泓科技有限公司
浙江智泓科技有限公司
陈磊
;
苏战胜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江智泓科技有限公司
浙江智泓科技有限公司
苏战胜
.
中国专利
:CN222753792U
,2025-04-15
[10]
一种芯片外观检测设备
[P].
夏俊杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
夏俊杰
;
林华胜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
林华胜
;
顾红伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
顾红伟
.
中国专利
:CN118988778A
,2024-11-22
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