一种芯片外观检测设备

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专利类型
实用新型
申请号
CN201920777005.3
申请日
2019-05-28
公开(公告)号
CN210207695U
公开(公告)日
2020-03-31
发明(设计)人
韩骏
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1433号
IPC主分类号
B07C502
IPC分类号
B07C534 B07C536
代理机构
代理人
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片外观检测设备 [P]. 
韩骏 .
中国专利 :CN110153023A ,2019-08-23
[2]
一种芯片外观检测设备 [P]. 
夏俊杰 ;
林华胜 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN222970389U ,2025-06-13
[3]
一种芯片外观检测设备 [P]. 
杨建设 ;
张雅凯 .
中国专利 :CN217304946U ,2022-08-26
[4]
一种芯片外观检测设备 [P]. 
刘炎 ;
胡翔 .
中国专利 :CN220678616U ,2024-03-29
[5]
一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备 [P]. 
邹巍 ;
庄彤 ;
欧阳衡 ;
钟建平 ;
刘兵生 ;
王志威 .
中国专利 :CN117538258A ,2024-02-09
[6]
一种用于检测芯片的外观检测装置及外观检测设备 [P]. 
姚发贵 ;
栾俊平 ;
欧远鹏 ;
蒋建华 ;
李土轩 ;
余国弟 ;
黎勇 .
中国专利 :CN215003700U ,2021-12-03
[7]
一种芯片外观缺陷检测装置 [P]. 
刘曜轩 ;
袁忠华 ;
李春凯 .
中国专利 :CN223551616U ,2025-11-14
[8]
一种PCB板外观检测设备 [P]. 
史金屏 .
中国专利 :CN221506674U ,2024-08-09
[9]
一种外观检测设备 [P]. 
陈磊 ;
苏战胜 .
中国专利 :CN222753792U ,2025-04-15
[10]
一种芯片外观检测设备 [P]. 
夏俊杰 ;
林华胜 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN118988778A ,2024-11-22