一种芯片外观检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910449365.5

申请日：

2019-05-28

公开(公告)号：

CN110153023A

公开(公告)日：

2019-08-23

发明(设计)人：

韩骏

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1433号

IPC主分类号：

B07C502

IPC分类号：

B07C534 B07C536

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-09-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B07C 5/02 申请日:20190528
2019-08-23	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片外观检测设备 [P].

韩骏 .

中国专利 :CN210207695U ,2020-03-31

[2]

一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备 [P].

邹巍 ;

庄彤 ;

欧阳衡 ;

钟建平 ;

刘兵生 ;

王志威 .

中国专利 :CN117538258A ,2024-02-09

[3]

一种芯片外观缺陷检测装置 [P].

刘曜轩 ;

袁忠华 ;

李春凯 .

中国专利 :CN223551616U ,2025-11-14

[4]

一种芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN118988778A ,2024-11-22

[5]

一种芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN222970389U ,2025-06-13

[6]

一种芯片外观检测设备 [P].

杨建设 ;

张雅凯 .

中国专利 :CN217304946U ,2022-08-26

[7]

一种芯片外观检测设备 [P].

刘炎 ;

胡翔 .

中国专利 :CN220678616U ,2024-03-29

[8]

芯片外观检测设备 [P].

仝敬烁 ;

姚旭东 ;

冯西龙 ;

褚丰 ;

朱文双 ;

姜红亮 ;

刘凯强 ;

仝浩杰 .

中国专利 :CN119619152A ,2025-03-14

[9]

芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN121042258A ,2025-12-02

[10]

一种芯片外观缺陷检测设备 [P].

陶雪峰 ;

郑超 .

中国专利 :CN118763049A ,2024-10-11

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