一种芯片外观检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411294504.9

申请日：

2024-09-14

公开(公告)号：

CN118988778A

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

夏俊杰林华胜顾红伟

申请人：

深圳超盈智能科技有限公司

申请人地址：

518100 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层

IPC主分类号：

B07C5/34

IPC分类号：

B07C5/02 B07C5/36 B07C5/38

代理机构：

代理人：

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-07	著录事项变更	著录事项变更IPC(主分类):B07C 5/34变更事项:申请人变更前:深圳超盈智能科技有限公司变更后:深圳科摩思智能科技有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518100 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层变更后:518100 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层
2024-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B07C 5/34申请日:20240914
2024-11-22	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN222970389U ,2025-06-13

[2]

芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN121042258A ,2025-12-02

[3]

一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备 [P].

邹巍 ;

庄彤 ;

欧阳衡 ;

钟建平 ;

刘兵生 ;

王志威 .

中国专利 :CN117538258A ,2024-02-09

[4]

一种芯片外观检测设备 [P].

杨建设 ;

张雅凯 .

中国专利 :CN217304946U ,2022-08-26

[5]

一种芯片外观缺陷检测设备 [P].

许培元 .

中国专利 :CN222325843U ,2025-01-10

[6]

一种用于检测芯片的外观检测装置及外观检测设备 [P].

姚发贵 ;

栾俊平 ;

欧远鹏 ;

蒋建华 ;

李土轩 ;

余国弟 ;

黎勇 .

中国专利 :CN215003700U ,2021-12-03

[7]

一种双通道芯片外观检测设备 [P].

晁阳升 ;

王珲荣 ;

陈争时 .

中国专利 :CN117629883A ,2024-03-01

[8]

一种芯片外观检测设备 [P].

韩骏 .

中国专利 :CN110153023A ,2019-08-23

[9]

一种芯片外观检测设备 [P].

韩骏 .

中国专利 :CN210207695U ,2020-03-31

[10]

一种芯片外观检测设备 [P].

刘炎 ;

胡翔 .

中国专利 :CN220678616U ,2024-03-29

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