一种双通道芯片外观检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210959860.2

申请日：

2022-08-11

公开(公告)号：

CN117629883A

公开(公告)日：

2024-03-01

发明(设计)人：

晁阳升王珲荣陈争时

申请人：

湖南奥创普科技有限公司

申请人地址：

410006 湖南省长沙市高新开发区岳麓西大道588号芯城科技园2栋7楼7011房

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/88 G01N21/956 G06T7/00

代理机构：

北京易捷胜知识产权代理有限公司 11613

代理人：

岑海梅

法律状态：

公开

国省代码：

河北省石家庄市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-01	公开	公开
2024-03-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20220811

共 50 条

[1]

一种单通道芯片外观检测设备 [P].

王珲荣 ;

晁阳升 ;

陈争时 .

中国专利 :CN218180696U ,2022-12-30

[2]

一种双通道芯片检测设备 [P].

陈宗廷 ;

戴洋洋 ;

陈建光 .

中国专利 :CN118763013A ,2024-10-11

[3]

一种双通道芯片检测设备 [P].

陈宗廷 ;

戴洋洋 ;

陈建光 .

中国专利 :CN118763013B ,2024-11-12

[4]

一种半导体芯片外观检测设备 [P].

王珲荣 ;

晁阳升 ;

肖鹏 .

中国专利 :CN218180709U ,2022-12-30

[5]

一种双通道芯片检测设备 [P].

晁阳升 ;

蔡浪滔 ;

王宇峰 ;

梁永鑫 .

中国专利 :CN216213270U ,2022-04-05

[6]

一种双通道芯片检测设备 [P].

晁阳升 ;

王珲荣 .

中国专利 :CN113433070B ,2021-09-24

[7]

一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备 [P].

邹巍 ;

庄彤 ;

欧阳衡 ;

钟建平 ;

刘兵生 ;

王志威 .

中国专利 :CN117538258A ,2024-02-09

[8]

一种芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN118988778A ,2024-11-22

[9]

一种芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN222970389U ,2025-06-13

[10]

一种芯片外观检测设备 [P].

杨建设 ;

张雅凯 .

中国专利 :CN217304946U ,2022-08-26

← 1 2 3 4 5 →