一种单通道芯片外观检测设备

被引：0

申请号：

CN202222107104.5

申请日：

2022-08-11

公开(公告)号：

CN218180696U

公开(公告)日：

2022-12-30

发明(设计)人：

王珲荣晁阳升陈争时

申请人：

申请人地址：

410006 湖南省长沙市高新开发区岳麓西大道588号芯城科技园2栋7楼7011房

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

北京易捷胜知识产权代理有限公司 11613

代理人：

岑海梅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-30	授权	授权

共 50 条

[1]

一种双通道芯片外观检测设备 [P].

晁阳升 ;

王珲荣 ;

陈争时 .

中国专利 :CN117629883A ,2024-03-01

[2]

一种半导体芯片外观检测设备 [P].

王珲荣 ;

晁阳升 ;

肖鹏 .

中国专利 :CN218180709U ,2022-12-30

[3]

一种芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN222970389U ,2025-06-13

[4]

一种芯片外观检测设备 [P].

杨建设 ;

张雅凯 .

中国专利 :CN217304946U ,2022-08-26

[5]

一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备 [P].

邹巍 ;

庄彤 ;

欧阳衡 ;

钟建平 ;

刘兵生 ;

王志威 .

中国专利 :CN117538258A ,2024-02-09

[6]

一种用于检测芯片的外观检测装置及外观检测设备 [P].

姚发贵 ;

栾俊平 ;

欧远鹏 ;

蒋建华 ;

李土轩 ;

余国弟 ;

黎勇 .

中国专利 :CN215003700U ,2021-12-03

[7]

单通道虹膜检测设备 [P].

冯建东 .

中国专利 :CN209000035U ,2019-06-18

[8]

一种芯片外观检测设备 [P].

韩骏 .

中国专利 :CN210207695U ,2020-03-31

[9]

一种芯片外观检测设备 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN118988778A ,2024-11-22

[10]

一种芯片外观检测设备 [P].

刘炎 ;

胡翔 .

中国专利 :CN220678616U ,2024-03-29

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