学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

一种用于检测芯片的外观检测装置及外观检测设备

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120588266.8
申请日：
2021-03-23
公开(公告)号：
CN215003700U
公开(公告)日：
2021-12-03
发明(设计)人：
姚发贵 栾俊平 欧远鹏 蒋建华 李土轩 余国弟 黎勇
申请人：
申请人地址：
523000 广东省东莞市长安镇咸西工业区莲湖路13号A栋
IPC主分类号：
G01D2102
IPC分类号：
代理机构：
东莞市永邦知识产权代理事务所(普通合伙) 44474
代理人：
曾婉忆
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-12-03 授权 授权
共 50 条
[1]
一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备 [P]. 
邹巍 ;
庄彤 ;
欧阳衡 ;
钟建平 ;
刘兵生 ;
王志威 .
中国专利 :CN117538258A ,2024-02-09
[2]
芯片外观检测设备 [P]. 
仝敬烁 ;
姚旭东 ;
冯西龙 ;
褚丰 ;
朱文双 ;
姜红亮 ;
刘凯强 ;
仝浩杰 .
中国专利 :CN119619152A ,2025-03-14
[3]
芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法 [P]. 
周培松 ;
许燚赟 ;
张文昊 .
中国专利 :CN117110292B ,2025-08-12
[4]
外观检测装置、外观检测设备及电池单体外观检测设备 [P]. 
刘玉青 ;
张明 ;
谢年旺 ;
邓副钱 ;
王红梅 .
中国专利 :CN217505684U ,2022-09-27
[5]
芯片外观检测装置 [P]. 
汪秉龙 ;
陈桂标 .
中国专利 :CN201724908U ,2011-01-26
[6]
芯片外观检测装置 [P]. 
周培松 ;
许燚赟 ;
张文昊 .
中国专利 :CN220419187U ,2024-01-30
[7]
一种芯片外观检测装置 [P]. 
唐松林 ;
王鹏 ;
董长国 .
中国专利 :CN209961695U ,2020-01-17
[8]
外观检测装置及检测设备 [P]. 
张恩山 ;
曲永生 ;
管善意 .
中国专利 :CN117805127A ,2024-04-02
[9]
芯片外观检测设备 [P]. 
夏俊杰 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN121042258A ,2025-12-02
[10]
一种适用于外观检测及下料设备的外观检测装置 [P]. 
邵勇锋 ;
刘涛荣 ;
王庆海 .
中国专利 :CN215390920U ,2022-01-04
12345