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一种芯片外观检测装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201920810092.8
申请日
:
2019-05-31
公开(公告)号
:
CN209961695U
公开(公告)日
:
2020-01-17
发明(设计)人
:
唐松林
王鹏
董长国
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市工业园区通园路80号内二号楼五层B217
IPC主分类号
:
G01N2188
IPC分类号
:
代理机构
:
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257
代理人
:
殷海霞
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-01-17
授权
授权
共 50 条
[1]
一种用于检测芯片的外观检测装置及外观检测设备
[P].
姚发贵
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姚发贵
;
栾俊平
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栾俊平
;
欧远鹏
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欧远鹏
;
蒋建华
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蒋建华
;
李土轩
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李土轩
;
余国弟
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余国弟
;
黎勇
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黎勇
.
中国专利
:CN215003700U
,2021-12-03
[2]
芯片外观检测装置
[P].
汪秉龙
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汪秉龙
;
陈桂标
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陈桂标
.
中国专利
:CN201724908U
,2011-01-26
[3]
一种封装芯片外观检测装置
[P].
李欢
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李欢
;
许杰
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许杰
;
徐松达
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徐松达
.
中国专利
:CN217484201U
,2022-09-23
[4]
一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备
[P].
邹巍
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机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
邹巍
;
庄彤
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机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
庄彤
;
欧阳衡
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机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
欧阳衡
;
钟建平
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机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
钟建平
;
刘兵生
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机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
刘兵生
;
王志威
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机构:
广州诺顶智能科技有限公司
广州诺顶智能科技有限公司
王志威
.
中国专利
:CN117538258A
,2024-02-09
[5]
芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法
[P].
周培松
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
周培松
;
许燚赟
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海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
许燚赟
;
张文昊
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
张文昊
.
中国专利
:CN117110292B
,2025-08-12
[6]
一种芯片承载盘外观检测装置
[P].
华波琴
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华波琴
;
朱俊
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朱俊
.
中国专利
:CN216539679U
,2022-05-17
[7]
一种芯片外观检测装置
[P].
陈力
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陈力
;
游诗勇
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游诗勇
.
中国专利
:CN110118783A
,2019-08-13
[8]
一种芯片外观检测装置
[P].
付永华
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机构:
浙江埃创科技服务有限公司
浙江埃创科技服务有限公司
付永华
;
贺新军
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机构:
浙江埃创科技服务有限公司
浙江埃创科技服务有限公司
贺新军
;
董建军
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浙江埃创科技服务有限公司
浙江埃创科技服务有限公司
董建军
;
丁雄
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浙江埃创科技服务有限公司
浙江埃创科技服务有限公司
丁雄
;
夏水平
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机构:
浙江埃创科技服务有限公司
浙江埃创科技服务有限公司
夏水平
;
高陆健
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机构:
浙江埃创科技服务有限公司
浙江埃创科技服务有限公司
高陆健
.
中国专利
:CN119804777A
,2025-04-11
[9]
芯片外观检测装置
[P].
周培松
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
周培松
;
许燚赟
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
许燚赟
;
张文昊
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机构:
海宁集成电路与先进制造研究院
海宁集成电路与先进制造研究院
张文昊
.
中国专利
:CN220419187U
,2024-01-30
[10]
一种芯片外观视觉检测机构
[P].
董长国
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董长国
;
王鹏
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王鹏
;
唐松林
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唐松林
.
中国专利
:CN214539212U
,2021-10-29
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