一种芯片外观检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510013590.X

申请日：

2025-01-06

公开(公告)号：

CN119804777A

公开(公告)日：

2025-04-11

发明(设计)人：

付永华贺新军董建军丁雄夏水平高陆健

申请人：

浙江埃创科技服务有限公司

申请人地址：

315100 浙江省宁波市高新区院士路66号创业大厦2号楼3-329室

IPC主分类号：

G01N33/00

IPC分类号：

H05K7/20

代理机构：

重庆徽赫天连知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 50303

代理人：

宋宜德

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 33/00申请日:20250106
2025-04-11	公开	公开

共 50 条

[1]

一种SMD外观检测装置 [P].

任文龙 .

中国专利 :CN222439371U ,2025-02-07

[2]

一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备 [P].

邹巍 ;

庄彤 ;

欧阳衡 ;

钟建平 ;

刘兵生 ;

王志威 .

中国专利 :CN117538258A ,2024-02-09

[3]

芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法 [P].

周培松 ;

许燚赟 ;

张文昊 .

中国专利 :CN117110292B ,2025-08-12

[4]

一种芯片外观检测装置 [P].

陈力 ;

游诗勇 .

中国专利 :CN110118783A ,2019-08-13

[5]

一种芯片外观检测装置 [P].

唐松林 ;

王鹏 ;

董长国 .

中国专利 :CN209961695U ,2020-01-17

[6]

芯片外观检测装置 [P].

汪秉龙 ;

陈桂标 .

中国专利 :CN201724908U ,2011-01-26

[7]

芯片外观检测装置 [P].

周培松 ;

许燚赟 ;

张文昊 .

中国专利 :CN220419187U ,2024-01-30

[8]

一种涂层外观检测装置 [P].

陈效全 ;

刘浩 .

中国专利 :CN218331245U ,2023-01-17

[9]

一种涂层外观检测装置 [P].

陈颋 .

中国专利 :CN212693610U ,2021-03-12

[10]

一种产品外观检测装置 [P].

王立海 ;

罗寿有 ;

李磊 .

中国专利 :CN220854695U ,2024-04-26

← 1 2 3 4 5 →