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一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311541710.0
申请日：
2023-11-17
公开(公告)号：
CN117538258A
公开(公告)日：
2024-02-09
发明(设计)人：
邹巍 庄彤 欧阳衡 钟建平 刘兵生 王志威
申请人：
广州诺顶智能科技有限公司 广州天极电子科技股份有限公司
申请人地址：
510000 广东省广州市番禺区石楼镇珠江路79号A幢自编201
IPC主分类号：
G01N21/01
IPC分类号：
G01N21/95
代理机构：
广州骏思知识产权代理有限公司 44425
代理人：
潘桂生
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省 广州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-03-01 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20231117
2024-02-09 公开 公开
共 50 条
[1]
一种用于检测芯片的外观检测装置及外观检测设备 [P]. 
姚发贵 ;
栾俊平 ;
欧远鹏 ;
蒋建华 ;
李土轩 ;
余国弟 ;
黎勇 .
中国专利 :CN215003700U ,2021-12-03
[2]
芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法 [P]. 
周培松 ;
许燚赟 ;
张文昊 .
中国专利 :CN117110292B ,2025-08-12
[3]
芯片外观检测装置 [P]. 
周培松 ;
许燚赟 ;
张文昊 .
中国专利 :CN220419187U ,2024-01-30
[4]
芯片外观检测设备 [P]. 
仝敬烁 ;
姚旭东 ;
冯西龙 ;
褚丰 ;
朱文双 ;
姜红亮 ;
刘凯强 ;
仝浩杰 .
中国专利 :CN119619152A ,2025-03-14
[5]
芯片外观检测设备 [P]. 
夏俊杰 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN121042258A ,2025-12-02
[6]
芯片外观检测装置 [P]. 
汪秉龙 ;
陈桂标 .
中国专利 :CN201724908U ,2011-01-26
[7]
芯片外观检测装置及芯片 [P]. 
周培松 ;
许燚赟 ;
张文昊 .
中国专利 :CN220872363U ,2024-04-30
[8]
一种芯片外观缺陷检测设备 [P]. 
许培元 .
中国专利 :CN222325843U ,2025-01-10
[9]
一种芯片外观检测设备 [P]. 
夏俊杰 ;
林华胜 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN118988778A ,2024-11-22
[10]
一种芯片外观检测设备 [P]. 
夏俊杰 ;
林华胜 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN222970389U ,2025-06-13
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