小型高低温测试设备

被引:0
申请号
CN202222339331.0
申请日
2022-09-01
公开(公告)号
CN218167066U
公开(公告)日
2022-12-30
发明(设计)人
林杰
申请人
申请人地址
310051 浙江省杭州市滨江区西兴街道阡陌路459号C楼C1-604室
IPC主分类号
B01L100
IPC分类号
B01L700
代理机构
北京成创同维知识产权代理有限公司 11449
代理人
岳丹丹
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种激光芯片高低温测试设备 [P]. 
陈晓华 ;
于振坤 ;
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一种高低温测试温控台 [P]. 
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[3]
高低温测试温控台 [P]. 
朱俊芳 .
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[4]
高低温电池的高低温测试箱 [P]. 
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汪桂云 ;
张承平 ;
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[5]
高低温测试设备及其测试方法 [P]. 
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[6]
光器件高低温跟踪误差测试装置 [P]. 
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[7]
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[8]
高低温测试箱 [P]. 
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[9]
PCB板高低温测试设备 [P]. 
吴志湘 .
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[10]
高低温箱测试装置及高低温测试方法 [P]. 
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潘立豹 .
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