高低温箱测试装置及高低温测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610784171.7
申请日
2016-08-31
公开(公告)号
CN106442602A
公开(公告)日
2017-02-22
发明(设计)人
甘源伟 向艳 袁烨 李静 潘立豹
申请人
申请人地址
241000 安徽省芜湖市高新技术开发区华夏科技园
IPC主分类号
G01N2500
IPC分类号
代理机构
北京润平知识产权代理有限公司 11283
代理人
张苗;罗攀
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
高低温测试箱 [P]. 
杨文祥 .
中国专利 :CN213376671U ,2021-06-08
[2]
高低温电池的高低温测试箱 [P]. 
秦传保 ;
汪桂云 ;
张承平 ;
宋永胜 ;
陆跃 .
中国专利 :CN106093790A ,2016-11-09
[3]
高低温测试装置 [P]. 
肖宇 .
中国专利 :CN220773211U ,2024-04-12
[4]
高低温测试装置 [P]. 
邓福坪 ;
杨重云 .
中国专利 :CN211178789U ,2020-08-04
[5]
高低温测试装置 [P]. 
李超峰 .
中国专利 :CN213903379U ,2021-08-06
[6]
芯片高低温测试装置 [P]. 
刘善浩 ;
王玉龙 ;
顾良波 ;
罗斌 .
中国专利 :CN114545126A ,2022-05-27
[7]
电机高低温测试装置 [P]. 
陈思伟 ;
杨竹 ;
林海燕 ;
张宁 ;
李琳潼 ;
李小宁 .
中国专利 :CN222259522U ,2024-12-27
[8]
高低温耐久测试装置 [P]. 
李达 ;
李德劲 ;
周亮 ;
叶子明 .
中国专利 :CN220543075U ,2024-02-27
[9]
灯具高低温测试装置 [P]. 
万勋亮 .
中国专利 :CN108398351A ,2018-08-14
[10]
电子元件在线高低温检测装置、高低温测试插座及芯片高低温测试方法 [P]. 
朱小刚 .
中国专利 :CN113406474A ,2021-09-17