芯片高低温测试装置

被引：0

申请号：

CN202210179417.3

申请日：

2022-02-25

公开(公告)号：

CN114545126A

公开(公告)日：

2022-05-27

发明(设计)人：

刘善浩王玉龙顾良波罗斌

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区郭守敬路351号2号楼6楼

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

上海思捷知识产权代理有限公司 31295

代理人：

罗磊

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-27	公开	公开
2022-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20220225

共 50 条

[1]

高低温箱测试装置及高低温测试方法 [P].

甘源伟 ;

向艳 ;

袁烨 ;

李静 ;

潘立豹 .

中国专利 :CN106442602A ,2017-02-22

[2]

一种芯片高低温测试装置 [P].

陈敏 ;

吴锡灶 ;

赵江 .

中国专利 :CN118483551A ,2024-08-13

[3]

一种芯片高低温测试装置 [P].

陈敏 ;

吴锡灶 ;

赵江 .

中国专利 :CN118483551B ,2024-11-05

[4]

高低温测试装置 [P].

肖宇 .

中国专利 :CN220773211U ,2024-04-12

[5]

高低温测试装置 [P].

邓福坪 ;

杨重云 .

中国专利 :CN211178789U ,2020-08-04

[6]

高低温测试装置 [P].

李超峰 .

中国专利 :CN213903379U ,2021-08-06

[7]

高低温探针台测试装置 [P].

徐斌 ;

杨盛全 .

中国专利 :CN223679236U ,2025-12-16

[8]

高低温线缆扭转测试装置 [P].

耿镇 ;

韩叶茂 ;

黄荣进 ;

缪志聪 ;

罗盼 ;

姚文蕊 .

中国专利 :CN119555519A ,2025-03-04

[9]

一种芯片高低温测试装置 [P].

李双成 ;

陈勇 ;

马海龙 ;

范传敏 ;

张永乐 ;

张亦锋 .

中国专利 :CN114047428A ,2022-02-15

[10]

一种芯片高低温测试装置 [P].

李亮 ;

王杨 .

中国专利 :CN121027798A ,2025-11-28

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