纳米尺度光场相位分布测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410236054.8

申请日：

2014-05-29

公开(公告)号：

CN104006891A

公开(公告)日：

2014-08-27

发明(设计)人：

王佳武晓宇孙琳谭峭峰白本锋

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱

IPC主分类号：

G01J902

IPC分类号：

G01J142 G01B1124

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

李迪

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-08-27	公开	公开
2017-06-16	授权	授权
2014-09-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101587088399 IPC(主分类):G01J 9/02 专利申请号:2014102360548 申请日:20140529

共 50 条

[1]

一种纳米尺度光场矢量偏振分布检测系统和方法 [P].

孙琳 ;

白本锋 ;

张小萌 ;

王佳 .

中国专利 :CN108458788A ,2018-08-28

[2]

光学探针干涉相位测量中相位误差补偿装置 [P].

王佳 ;

武晓宇 ;

孙琳 ;

谭峭峰 ;

白本锋 .

中国专利 :CN104634282B ,2015-05-20

[3]

纳米尺度展示装置 [P].

霍杨 ;

胡俊 ;

李虹 ;

王伟 ;

郭永霞 .

中国专利 :CN217161602U ,2022-08-12

[4]

纳米尺度结构 [P].

P.马迪洛维奇 ;

Q.魏 ;

A.M.富勒 .

中国专利 :CN103153845B ,2013-06-12

[5]

纳米尺度FET [P].

R·叙尔迪努 ;

P·阿加瓦尔 ;

A·R·巴尔克宁德 ;

E·P·A·M·巴克斯 .

中国专利 :CN1985378A ,2007-06-20

[6]

一种纳米尺度固体混合浸没透镜 [P].

蒋立勇 ;

张伟 ;

王彬 ;

刘涛 ;

郭恩来 ;

李相银 .

中国专利 :CN104237982A ,2014-12-24

[7]

纳米尺度传感器 [P].

埃里克·亨德森 ;

柯蒂斯·莫舍 .

中国专利 :CN1468316A ,2004-01-14

[8]

纳米尺度故障离析和测量系统 [P].

戴维·P·瓦利特 ;

西奥多·莱文 ;

菲利普·卡斯祖巴 .

中国专利 :CN101322037A ,2008-12-10

[9]

纳米尺度材料内耗与模量测量方法及装置 [P].

庄重 ;

郭丽君 ;

程帜军 ;

吴兵 ;

王先平 ;

方前锋 .

中国专利 :CN103257106A ,2013-08-21

[10]

基于光流算法测量显微镜下纳米尺度三维形变的方法 [P].

赵冉 ;

贾金升 ;

许慧超 ;

刘波 ;

王一苇 ;

那天一 ;

孔壮 .

中国专利 :CN113048901A ,2021-06-29

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