纳米尺度故障离析和测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200680045028.0

申请日：

2006-11-23

公开(公告)号：

CN101322037A

公开(公告)日：

2008-12-10

发明(设计)人：

戴维·P·瓦利特西奥多·莱文菲利普·卡斯祖巴

申请人：

申请人地址：

美国纽约

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

张波

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-12-10	公开	公开
2009-02-04	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-04-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种纳米尺度光电响应的测量系统 [P].

陈庚亮 ;

席宁 .

中国专利 :CN211784198U ,2020-10-27

[2]

纳米尺度结构 [P].

P.马迪洛维奇 ;

Q.魏 ;

A.M.富勒 .

中国专利 :CN103153845B ,2013-06-12

[3]

纳米尺度FET [P].

R·叙尔迪努 ;

P·阿加瓦尔 ;

A·R·巴尔克宁德 ;

E·P·A·M·巴克斯 .

中国专利 :CN1985378A ,2007-06-20

[4]

纳米尺度气体流动规律实验系统 [P].

刘淑敏 ;

王登科 ;

陈科 ;

王洪磊 ;

孙刘涛 ;

吕瑞环 .

中国专利 :CN206515189U ,2017-09-22

[5]

一种纳米尺度光电响应测量系统及方法 [P].

陈庚亮 ;

席宁 .

中国专利 :CN111366335B ,2025-06-06

[6]

一种纳米尺度光电响应测量系统及方法 [P].

陈庚亮 ;

席宁 .

中国专利 :CN111366335A ,2020-07-03

[7]

用于标识、收集、重新定位和分析微米尺度颗粒和纳米尺度颗粒的系统、设备和方法 [P].

K·R·迪·博纳 ;

C·M·希尔 .

美国专利 :CN119053866A ,2024-11-29

[8]

纳米尺度展示装置 [P].

霍杨 ;

胡俊 ;

李虹 ;

王伟 ;

郭永霞 .

中国专利 :CN217161602U ,2022-08-12

[9]

纳米尺度光场相位分布测量装置 [P].

王佳 ;

武晓宇 ;

孙琳 ;

谭峭峰 ;

白本锋 .

中国专利 :CN104006891A ,2014-08-27

[10]

纳米尺度传感器 [P].

埃里克·亨德森 ;

柯蒂斯·莫舍 .

中国专利 :CN1468316A ,2004-01-14

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