老化测试柜

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721075584.4

申请日：

2017-08-25

公开(公告)号：

CN207164092U

公开(公告)日：

2018-03-30

发明(设计)人：

童帅邹其超

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区沙井街道上南东路新丰泽工业区2号厂房二楼

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司 44384

代理人：

彭西洋;苏芳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-30	授权	授权
2020-08-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20170825 授权公告日:20180330 终止日期:20190825

共 50 条

[1]

老化测试柜 [P].

吴涛 ;

黄明雄 ;

庞成 ;

石利军 ;

刘艳磊 .

中国专利 :CN205040133U ,2016-02-17

[2]

老化测试柜 [P].

洪明江 ;

赵鹏政 .

中国专利 :CN216816843U ,2022-06-24

[3]

老化测试柜 [P].

吴涛 ;

黄明雄 ;

石利军 ;

庞成 ;

刘艳磊 .

中国专利 :CN205210127U ,2016-05-04

[4]

老化测试柜 [P].

尉刚 .

中国专利 :CN211904179U ,2020-11-10

[5]

逆变器老化测试柜 [P].

郭剑民 .

中国专利 :CN208125848U ,2018-11-20

[6]

电源老化测试柜 [P].

王正平 .

中国专利 :CN211236172U ,2020-08-11

[7]

芯片老化测试柜温控装置及芯片老化测试柜 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN221860611U ,2024-10-18

[8]

老化测试盒及双侧老化测试柜 [P].

王雪成 .

中国专利 :CN211402572U ,2020-09-01

[9]

老化测试柜 [P].

梁远文 ;

陈长安 .

中国专利 :CN307643892S ,2022-11-08

[10]

老化测试柜 [P].

谷新亮 ;

折包军 ;

刘晨光 .

中国专利 :CN109884500A ,2019-06-14

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