学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
老化测试盒及双侧老化测试柜
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201922068707.7
申请日
:
2019-11-26
公开(公告)号
:
CN211402572U
公开(公告)日
:
2020-09-01
发明(设计)人
:
王雪成
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市福田区泰然工业区深业泰然雪松大厦B座7C(仅限办公)
IPC主分类号
:
G01R3100
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
:
晏波
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-09-01
授权
授权
共 50 条
[1]
老化测试柜
[P].
吴涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴涛
;
黄明雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄明雄
;
庞成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
庞成
;
石利军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石利军
;
刘艳磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘艳磊
.
中国专利
:CN205040133U
,2016-02-17
[2]
老化测试柜
[P].
吴涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴涛
;
黄明雄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄明雄
;
石利军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石利军
;
庞成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
庞成
;
刘艳磊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘艳磊
.
中国专利
:CN205210127U
,2016-05-04
[3]
老化测试柜
[P].
童帅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
童帅
;
邹其超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邹其超
.
中国专利
:CN207164092U
,2018-03-30
[4]
老化测试柜
[P].
洪明江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
洪明江
;
赵鹏政
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵鹏政
.
中国专利
:CN216816843U
,2022-06-24
[5]
老化测试柜
[P].
尉刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尉刚
.
中国专利
:CN211904179U
,2020-11-10
[6]
老化测试盒
[P].
郑高富
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑高富
;
莫燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
莫燕
;
王世益
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王世益
;
吴剑锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴剑锋
;
邱兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱兵
.
中国专利
:CN214335096U
,2021-10-01
[7]
芯片老化测试柜温控装置及芯片老化测试柜
[P].
徐永刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
徐永刚
;
彭瑞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
彭瑞
;
孙成思
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
孙成思
;
何瀚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
何瀚
;
王灿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
王灿
.
中国专利
:CN221860611U
,2024-10-18
[8]
老化测试箱及老化测试系统
[P].
陈剑晟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈剑晟
;
沈冲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
沈冲
;
王斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王斌
;
羡迪新
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
羡迪新
;
陈驰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈驰
;
高建辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高建辉
.
中国专利
:CN201716335U
,2011-01-19
[9]
老化测试机及老化测试系统
[P].
刘超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘超
.
中国专利
:CN207215920U
,2018-04-10
[10]
老化测试电路及老化测试平台
[P].
高峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高峰
;
杨楷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨楷
.
中国专利
:CN213457147U
,2021-06-15
←
1
2
3
4
5
→