老化测试盒及双侧老化测试柜

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201922068707.7
申请日
2019-11-26
公开(公告)号
CN211402572U
公开(公告)日
2020-09-01
发明(设计)人
王雪成
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市福田区泰然工业区深业泰然雪松大厦B座7C(仅限办公)
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
代理机构
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
晏波
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
老化测试柜 [P]. 
吴涛 ;
黄明雄 ;
庞成 ;
石利军 ;
刘艳磊 .
中国专利 :CN205040133U ,2016-02-17
[2]
老化测试柜 [P]. 
吴涛 ;
黄明雄 ;
石利军 ;
庞成 ;
刘艳磊 .
中国专利 :CN205210127U ,2016-05-04
[3]
老化测试柜 [P]. 
童帅 ;
邹其超 .
中国专利 :CN207164092U ,2018-03-30
[4]
老化测试柜 [P]. 
洪明江 ;
赵鹏政 .
中国专利 :CN216816843U ,2022-06-24
[5]
老化测试柜 [P]. 
尉刚 .
中国专利 :CN211904179U ,2020-11-10
[6]
老化测试盒 [P]. 
郑高富 ;
莫燕 ;
王世益 ;
吴剑锋 ;
邱兵 .
中国专利 :CN214335096U ,2021-10-01
[7]
芯片老化测试柜温控装置及芯片老化测试柜 [P]. 
徐永刚 ;
彭瑞 ;
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 .
中国专利 :CN221860611U ,2024-10-18
[8]
老化测试箱及老化测试系统 [P]. 
陈剑晟 ;
沈冲 ;
王斌 ;
羡迪新 ;
陈驰 ;
高建辉 .
中国专利 :CN201716335U ,2011-01-19
[9]
老化测试机及老化测试系统 [P]. 
刘超 .
中国专利 :CN207215920U ,2018-04-10
[10]
老化测试电路及老化测试平台 [P]. 
高峰 ;
杨楷 .
中国专利 :CN213457147U ,2021-06-15