一种介损测试仪

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201621295473.X
申请日
2016-11-28
公开(公告)号
CN206945827U
公开(公告)日
2018-01-30
发明(设计)人
陈剑云 吴辉 闫亮亮 陈秋琳 蒋士林 胡颖
申请人
申请人地址
100054 北京市丰台区菜户营58号财富西环名苑1604室
IPC主分类号
G01R2726
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
介损测试仪 [P]. 
吴辉 ;
闫亮亮 ;
陈秋琳 ;
王小明 ;
刘巍 .
中国专利 :CN206038774U ,2017-03-22
[2]
一种介损测试仪 [P]. 
王金怀 .
中国专利 :CN216870672U ,2022-07-01
[3]
一种新型超低频耐压介损测试仪 [P]. 
尹越超 .
中国专利 :CN210835073U ,2020-06-23
[4]
彩屏精密介损测试仪 [P]. 
蔡会学 .
中国专利 :CN213517335U ,2021-06-22
[5]
一种抗干扰介损测试仪 [P]. 
邵敏珉 .
中国专利 :CN221239012U ,2024-06-28
[6]
一种电缆介损测试仪 [P]. 
李桂英 .
中国专利 :CN220709264U ,2024-04-02
[7]
多电容介损标准测试仪 [P]. 
雷轻扬 ;
雷凡 .
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[8]
抗干扰异频介损测试仪 [P]. 
汪细彬 ;
余和文 ;
肖昕听 ;
汪思佳 .
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[9]
一种抗干扰异频介损测试仪 [P]. 
张建红 .
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[10]
电缆介损老化状态测试仪 [P]. 
陈世光 .
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