一种新型超低频耐压介损测试仪

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201920921759.1
申请日
2019-06-19
公开(公告)号
CN210835073U
公开(公告)日
2020-06-23
发明(设计)人
尹越超
申请人
申请人地址
430011 湖北省武汉市江岸区汉黄路888号岱家山科技创业城4号楼3楼夹层02室
IPC主分类号
G01R2726
IPC分类号
代理机构
武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙) 42251
代理人
尹伟
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
介损测试仪 [P]. 
吴辉 ;
闫亮亮 ;
陈秋琳 ;
王小明 ;
刘巍 .
中国专利 :CN206038774U ,2017-03-22
[2]
一种超低频耐压测试仪 [P]. 
段浪 .
中国专利 :CN215526010U ,2022-01-14
[3]
一种介损测试仪 [P]. 
陈剑云 ;
吴辉 ;
闫亮亮 ;
陈秋琳 ;
蒋士林 ;
胡颖 .
中国专利 :CN206945827U ,2018-01-30
[4]
超低频交流耐压测试仪 [P]. 
刘亮辰 ;
刘林波 ;
张琪 .
中国专利 :CN213423454U ,2021-06-11
[5]
一种介损测试仪 [P]. 
王金怀 .
中国专利 :CN216870672U ,2022-07-01
[6]
一种用于超低频介损测试仪的高压逆变电路 [P]. 
刘子阳 ;
柯利民 .
中国专利 :CN215010076U ,2021-12-03
[7]
彩屏精密介损测试仪 [P]. 
蔡会学 .
中国专利 :CN213517335U ,2021-06-22
[8]
一种抗干扰介损测试仪 [P]. 
邵敏珉 .
中国专利 :CN221239012U ,2024-06-28
[9]
一种电缆介损测试仪 [P]. 
李桂英 .
中国专利 :CN220709264U ,2024-04-02
[10]
多电容介损标准测试仪 [P]. 
雷轻扬 ;
雷凡 .
中国专利 :CN213302367U ,2021-05-28