一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111304287.3
申请日
2021-11-05
公开(公告)号
CN113986708A
公开(公告)日
2022-01-28
发明(设计)人
叶朋 郭建川 殷灿菊
申请人
申请人地址
510530 广东省广州市黄埔区伴河路136号A栋801-810房
IPC主分类号
G06F1134
IPC分类号
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
高艳红
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种性能测试方法、存储介质、电子设备及系统 [P]. 
张德华 .
中国专利 :CN111026632A ,2020-04-17
[2]
一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
田欧 .
中国专利 :CN111431759A ,2020-07-17
[3]
一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王辉 ;
廖荣富 .
中国专利 :CN114385493A ,2022-04-22
[4]
一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
曾泳繁 ;
蔡培奇 .
中国专利 :CN112491654B ,2024-04-19
[5]
一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭申 ;
廖泉辉 ;
林锴滨 ;
方俊德 ;
周诚 .
中国专利 :CN119938462A ,2025-05-06
[6]
一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
曾泳繁 ;
蔡培奇 .
中国专利 :CN112491654A ,2021-03-12
[7]
一种性能测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
罗海龙 .
中国专利 :CN117395169A ,2024-01-12
[8]
一种性能测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
郝心 ;
闫亚闯 .
中国专利 :CN110287077A ,2019-09-27
[9]
性能测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
高学军 ;
刘晨 .
中国专利 :CN117873849A ,2024-04-12
[10]
一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
穆亚昆 ;
姬超平 .
中国专利 :CN114546852A ,2022-05-27