一种性能测试方法、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910556848.5

申请日：

2019-06-25

公开(公告)号：

CN110287077A

公开(公告)日：

2019-09-27

发明(设计)人：

郝心闫亚闯

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区小营西路33号二层东区

IPC主分类号：

G06F1126

IPC分类号：

G06F1122

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

郝传鑫;熊永强

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-09-27	公开	公开
2019-10-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/26 申请日:20190625

共 50 条

[1]

一种性能测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

王政达 ;

姜琳 ;

周海静 ;

王鹏 ;

彭瑞雪 ;

崔剑飞 ;

武凯 ;

苏真蛟 ;

郭珺 .

中国专利 :CN109298995B ,2019-02-01

[2]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

田欧 .

中国专利 :CN111431759A ,2020-07-17

[3]

一种性能测试方法、存储介质、电子设备及系统 [P].

张德华 .

中国专利 :CN111026632A ,2020-04-17

[4]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王辉 ;

廖荣富 .

中国专利 :CN114385493A ,2022-04-22

[5]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

曾泳繁 ;

蔡培奇 .

中国专利 :CN112491654B ,2024-04-19

[6]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郭申 ;

廖泉辉 ;

林锴滨 ;

方俊德 ;

周诚 .

中国专利 :CN119938462A ,2025-05-06

[7]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

曾泳繁 ;

蔡培奇 .

中国专利 :CN112491654A ,2021-03-12

[8]

一种性能测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

罗海龙 .

中国专利 :CN117395169A ,2024-01-12

[9]

一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质 [P].

叶朋 ;

郭建川 ;

殷灿菊 .

中国专利 :CN113986708A ,2022-01-28

[10]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

穆亚昆 ;

姬超平 .

中国专利 :CN114546852A ,2022-05-27

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