一种性能测试方法、装置、电子设备以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710608159.5

申请日：

2017-07-24

公开(公告)号：

CN109298995B

公开(公告)日：

2019-02-01

发明(设计)人：

王政达姜琳周海静王鹏彭瑞雪崔剑飞武凯苏真蛟郭珺

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区中关村东路1号院9号楼搜狐网络大厦9层01房间

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06F1134 G06F1130

代理机构：

北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319

代理人：

莎日娜

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-02-01	公开	公开
2019-07-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20170724
2022-05-13	授权	授权

共 50 条

[1]

一种性能测试方法、电子设备及存储介质 [P].

郝心 ;

闫亚闯 .

中国专利 :CN110287077A ,2019-09-27

[2]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

穆亚昆 ;

姬超平 .

中国专利 :CN114546852A ,2022-05-27

[3]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

穆亚昆 ;

姬超平 .

中国专利 :CN114546852B ,2024-04-09

[4]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陆玮 ;

杨洋 .

中国专利 :CN113127364A ,2021-07-16

[5]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

田欧 .

中国专利 :CN111431759A ,2020-07-17

[6]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王辉 ;

廖荣富 .

中国专利 :CN114385493A ,2022-04-22

[7]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

张敏 ;

江超 ;

邓灿 .

中国专利 :CN119127716A ,2024-12-13

[8]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

曾泳繁 ;

蔡培奇 .

中国专利 :CN112491654B ,2024-04-19

[9]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郭申 ;

廖泉辉 ;

林锴滨 ;

方俊德 ;

周诚 .

中国专利 :CN119938462A ,2025-05-06

[10]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陆玮 ;

杨洋 .

中国专利 :CN113127364B ,2024-12-20

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