一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210157035.0

申请日：

2022-02-21

公开(公告)号：

CN114546852B

公开(公告)日：

2024-04-09

发明(设计)人：

穆亚昆姬超平

申请人：

北京百度网讯科技有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区上地十街10号百度大厦2层

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F11/34

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

李彩玲

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-09	授权	授权

共 50 条

[1]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

穆亚昆 ;

姬超平 .

中国专利 :CN114546852A ,2022-05-27

[2]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郭申 ;

廖泉辉 ;

林锴滨 ;

方俊德 ;

周诚 .

中国专利 :CN119938462A ,2025-05-06

[3]

硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

张权 .

中国专利 :CN117687850A ,2024-03-12

[4]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911A ,2020-04-21

[5]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911B ,2024-04-16

[6]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陆玮 ;

杨洋 .

中国专利 :CN113127364A ,2021-07-16

[7]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

张敏 ;

江超 ;

邓灿 .

中国专利 :CN119127716A ,2024-12-13

[8]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陆玮 ;

杨洋 .

中国专利 :CN113127364B ,2024-12-20

[9]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

田欧 .

中国专利 :CN111431759A ,2020-07-17

[10]

一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

曾泳繁 ;

蔡培奇 .

中国专利 :CN112491654B ,2024-04-19

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