性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911319788.1

申请日：

2019-12-19

公开(公告)号：

CN111045911B

公开(公告)日：

2024-04-16

发明(设计)人：

梁冬冬

申请人：

京东科技控股股份有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室

IPC主分类号：

G06F11/34

IPC分类号：

G06F11/36

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

王辉;阚梓瑄

法律状态：

授权

国省代码：

安徽省宣城市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-16	授权	授权

共 50 条

[1]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911A ,2020-04-21

[2]

性能测试方法、性能测试装置、电子设备及存储介质 [P].

潘宝云 .

中国专利 :CN110046081A ,2019-07-23

[3]

硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

张权 .

中国专利 :CN117687850A ,2024-03-12

[4]

性能测试装置、方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

廖兆琨 ;

姜雯婕 ;

雷文烈 ;

庞舒琪 ;

刘丽媛 ;

何旭东 .

中国专利 :CN120492348A ,2025-08-15

[5]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

张珺 ;

农华莲 ;

韩照光 .

中国专利 :CN113297088A ,2021-08-24

[6]

帧率测试方法、帧率测试装置、电子设备及存储介质 [P].

何玮 .

中国专利 :CN117880489A ,2024-04-12

[7]

页面测试方法、页面测试装置、电子设备及存储介质 [P].

刘殿宇 ;

魏亮亮 ;

朱志国 ;

方正栋 ;

孙庆光 ;

王祖文 .

中国专利 :CN112015635A ,2020-12-01

[8]

应用性能测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

黄柳优 ;

彭志远 .

中国专利 :CN115640232A ,2023-01-24

[9]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

穆亚昆 ;

姬超平 .

中国专利 :CN114546852A ,2022-05-27

[10]

一种性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

穆亚昆 ;

姬超平 .

中国专利 :CN114546852B ,2024-04-09

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