应用性能测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引：0

申请号：

CN202211358824.7

申请日：

2022-11-01

公开(公告)号：

CN115640232A

公开(公告)日：

2023-01-24

发明(设计)人：

黄柳优彭志远

申请人：

申请人地址：

100190 北京市海淀区紫金数码园4号楼2层0207

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447

代理人：

王修雨

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-24	公开	公开
2023-02-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20221101

共 50 条

[1]

应用性能优化方法、电子设备和存储介质 [P].

周全 ;

杨肖 ;

陈律 ;

喻之斌 ;

关冰宇 ;

李国徽 .

中国专利 :CN117389603A ,2024-01-12

[2]

应用性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

张秋震 ;

臧影超 .

中国专利 :CN118708479A ,2024-09-27

[3]

一种应用性能检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郝海圣 ;

郭峰 .

中国专利 :CN120196526A ,2025-06-24

[4]

应用测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘桐欢 .

中国专利 :CN113886271A ,2022-01-04

[5]

应用测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨帆 .

中国专利 :CN120994534A ,2025-11-21

[6]

一种应用性能优化方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨勇 ;

王志国 ;

李少凯 ;

乔霖 .

中国专利 :CN118363764A ,2024-07-19

[7]

一种应用性能优化方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨勇 ;

王志国 ;

李少凯 ;

乔霖 .

中国专利 :CN118363764B ,2025-01-21

[8]

应用程序的性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘露平 ;

郑洪 ;

高琦 .

中国专利 :CN119046149A ,2024-11-29

[9]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911A ,2020-04-21

[10]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911B ,2024-04-16

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