性能测试方法、性能测试装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910203314.4
申请日
2019-03-18
公开(公告)号
CN110046081A
公开(公告)日
2019-07-23
发明(设计)人
潘宝云
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室
IPC主分类号
G06F1134
IPC分类号
代理机构
深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 44232
代理人
刘抗美
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P]. 
梁冬冬 .
中国专利 :CN111045911A ,2020-04-21
[2]
性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P]. 
梁冬冬 .
中国专利 :CN111045911B ,2024-04-16
[3]
拍摄性能测试装置、拍摄性能测试方法及电子设备 [P]. 
韦洪坷 .
中国专利 :CN117915073A ,2024-04-19
[4]
性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郑昊焜 ;
杨帆 .
中国专利 :CN117093466B ,2024-01-16
[5]
处理器性能测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
万路路 .
中国专利 :CN121092376A ,2025-12-09
[6]
网络性能的测试方法和测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
周国强 ;
胡懿敏 ;
王磊 .
中国专利 :CN110855520A ,2020-02-28
[7]
云平台性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李康康 .
中国专利 :CN117891738A ,2024-04-16
[8]
性能测试装置、方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
廖兆琨 ;
姜雯婕 ;
雷文烈 ;
庞舒琪 ;
刘丽媛 ;
何旭东 .
中国专利 :CN120492348A ,2025-08-15
[9]
模型性能测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
郭春庭 ;
徐冠群 ;
李栋梁 .
中国专利 :CN121117539A ,2025-12-12
[10]
性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN110309038B ,2019-10-08