处理器性能测试方法、测试装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511085747.6

申请日：

2025-08-04

公开(公告)号：

CN121092376A

公开(公告)日：

2025-12-09

发明(设计)人：

万路路

申请人：

上海移远通信技术股份有限公司

申请人地址：

201601 上海市松江区泗泾镇高技路205弄6号5层513室

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

何艳

法律状态：

公开

国省代码：

上海市市辖区

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-09	公开	公开
2025-12-26	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20250804

共 50 条

[1]

性能测试方法、性能测试装置、电子设备及存储介质 [P].

潘宝云 .

中国专利 :CN110046081A ,2019-07-23

[2]

图形处理器性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨阳 ;

孙策 ;

蔡其锋 ;

张楠 ;

廖泉辉 .

中国专利 :CN119201568A ,2024-12-27

[3]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911A ,2020-04-21

[4]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911B ,2024-04-16

[5]

处理器性能的测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

姚定财 ;

李进 ;

卢亮 ;

余雁玲 ;

李珍珠 .

中国专利 :CN119149316A ,2024-12-17

[6]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨欢 ;

钱嘉林 .

中国专利 :CN117785592A ,2024-03-29

[7]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郑昊焜 ;

杨帆 .

中国专利 :CN117093466B ,2024-01-16

[8]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

水洋为 ;

唐苗苗 ;

孙铭鸿 .

中国专利 :CN120631754A ,2025-09-12

[9]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

王越 ;

王欣 ;

李佩刚 ;

苏畅 ;

周荣林 ;

高建瓴 .

中国专利 :CN113220597B ,2024-04-16

[10]

测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P].

张珺 ;

农华莲 ;

韩照光 .

中国专利 :CN113297088A ,2021-08-24

← 1 2 3 4 5 →