性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311744058.2

申请日：

2023-12-18

公开(公告)号：

CN117785592A

公开(公告)日：

2024-03-29

发明(设计)人：

杨欢钱嘉林

申请人：

中科驭数（北京）科技有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区北清路81号院一区4号楼14层1401室

IPC主分类号：

G06F11/26

IPC分类号：

G06F11/36

代理机构：

北京开阳星知识产权代理有限公司 11710

代理人：

袁亚杰

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-29	公开	公开
2024-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/26申请日:20231218
2025-07-08	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G06F 11/26申请公布日:20240329

共 50 条

[1]

设备性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

包振兵 ;

邵栋 ;

王茂瞳 .

中国专利 :CN111984544B ,2024-03-22

[2]

设备性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

包振兵 ;

邵栋 ;

王茂瞳 .

中国专利 :CN111984544A ,2020-11-24

[3]

性能测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

黄武军 .

中国专利 :CN119806976A ,2025-04-11

[4]

设备性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

赵凡 .

中国专利 :CN114328041A ,2022-04-12

[5]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911A ,2020-04-21

[6]

性能测试方法、性能测试装置、存储介质与电子设备 [P].

梁冬冬 .

中国专利 :CN111045911B ,2024-04-16

[7]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何品德 .

中国专利 :CN112612686A ,2021-04-06

[8]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余建明 .

中国专利 :CN114338448B ,2024-02-20

[9]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郑昊焜 ;

杨帆 .

中国专利 :CN117093466B ,2024-01-16

[10]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

余建明 .

中国专利 :CN114338448A ,2022-04-12

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