设备性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

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申请号
CN202111445096.9
申请日
2021-11-30
公开(公告)号
CN114328041A
公开(公告)日
2022-04-12
发明(设计)人
赵凡
申请人
申请人地址
215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
王晓芬
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
张明昊 .
中国专利 :CN115695227A ,2023-02-03
[2]
性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
彭红燕 .
中国专利 :CN109669865A ,2019-04-23
[3]
设备性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
包振兵 ;
邵栋 ;
王茂瞳 .
中国专利 :CN111984544B ,2024-03-22
[4]
设备性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
包振兵 ;
邵栋 ;
王茂瞳 .
中国专利 :CN111984544A ,2020-11-24
[5]
存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
王松 .
中国专利 :CN119943124B ,2025-07-29
[6]
存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
王松 .
中国专利 :CN119943124A ,2025-05-06
[7]
性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨欢 ;
钱嘉林 .
中国专利 :CN117785592A ,2024-03-29
[8]
电子设备性能优化方法、装置及可读存储介质 [P]. 
刘全玲 ;
吕东波 ;
韩琳琳 .
中国专利 :CN119512834A ,2025-02-25
[9]
软件性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
杨文 ;
楚培林 ;
陈强 .
中国专利 :CN113806205B ,2024-08-30
[10]
光学性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
赵雪汝 .
中国专利 :CN117848675A ,2024-04-09