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存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510445729.8
申请日：
2025-04-10
公开(公告)号：
CN119943124A
公开(公告)日：
2025-05-06
发明(设计)人：
孙成思 何瀚 王灿 王松
申请人：
成都佰维存储科技有限公司
申请人地址：
610000 四川省成都市高新区天华二路219号4栋1单元2层1号、2号、3号、4号、5号
IPC主分类号：
G11C29/12
IPC分类号：
G11C29/56
代理机构：
深圳市博锐专利事务所 44275
代理人：
林栋
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-23 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/12申请日:20250410
2025-05-06 公开 公开
2025-07-29 授权 授权
共 50 条
[1]
存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
王松 .
中国专利 :CN119943124B ,2025-07-29
[2]
存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
赵颖 .
中国专利 :CN117476086A ,2024-01-30
[3]
存储器测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
郭佳豪 ;
郝守青 ;
高国重 ;
冯佳杰 .
中国专利 :CN118072810A ,2024-05-24
[4]
设备性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
赵凡 .
中国专利 :CN114328041A ,2022-04-12
[5]
存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
付旭东 ;
高国重 ;
郝守青 .
中国专利 :CN113160873A ,2021-07-23
[6]
性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
张明昊 .
中国专利 :CN115695227A ,2023-02-03
[7]
性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
彭红燕 .
中国专利 :CN109669865A ,2019-04-23
[8]
存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
李振华 ;
叶欣 ;
张飞旸 .
中国专利 :CN112017723B ,2020-12-01
[9]
存储器芯片的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
贺乐 ;
赖鼐 .
中国专利 :CN121034381A ,2025-11-28
[10]
存储器控制方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
陈志刚 .
中国专利 :CN119724285A ,2025-03-28
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