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存储器控制方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411785879.5
申请日：
2024-12-06
公开(公告)号：
CN119724285A
公开(公告)日：
2025-03-28
发明(设计)人：
陈志刚
申请人：
维沃移动通信有限公司
申请人地址：
523863 广东省东莞市长安镇维沃路1号
IPC主分类号：
G11C11/4078
IPC分类号：
H04B1/10 G11C11/409 G11C11/4074
代理机构：
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人：
董继宏
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省 肇庆市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-04-15 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G11C 11/4078申请日:20241206
2025-03-28 公开 公开
共 50 条
[1]
存储器测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
郭佳豪 ;
郝守青 ;
高国重 ;
冯佳杰 .
中国专利 :CN118072810A ,2024-05-24
[2]
存储器编程方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
李爽 ;
王瑜 ;
张超 ;
李海波 ;
侯春源 ;
盛悦 .
中国专利 :CN110619916A ,2019-12-27
[3]
QLC存储器的控制方法、电子设备、可读存储介质 [P]. 
邹胜平 ;
唐广军 ;
吴勇 ;
陈政雄 .
中国专利 :CN119376953A ,2025-01-28
[4]
存储器异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
陈博文 .
中国专利 :CN112486747A ,2021-03-12
[5]
存储器异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
陈博文 .
中国专利 :CN112486747B ,2024-08-09
[6]
存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
王松 .
中国专利 :CN119943124B ,2025-07-29
[7]
存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
王松 .
中国专利 :CN119943124A ,2025-05-06
[8]
存储器性能测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
赵颖 .
中国专利 :CN117476086A ,2024-01-30
[9]
存储器的控制方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
陈浩菁 .
中国专利 :CN120821423A ,2025-10-21
[10]
存储器的校验方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
蔡光骏 ;
何崇来 .
中国专利 :CN117877562A ,2024-04-12
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