瑕疵检测系统及制品的瑕疵检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010548575.2
申请日
2020-06-16
公开(公告)号
CN113820329A
公开(公告)日
2021-12-21
发明(设计)人
施宣宇 洪伟杰 刘庭宇 林启豪 宋明光
申请人
申请人地址
510663 广东省广州市高新技术产业开发区科学城光谱西路25号
IPC主分类号
G01N21956
IPC分类号
G06T700 G06N2000 G06N2010
代理机构
南京经纬专利商标代理有限公司 32200
代理人
楼高潮
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
瑕疵检测系统及瑕疵检测方法 [P]. 
胡叶岑 ;
苏啸 ;
倪浩天 ;
陈晓燕 ;
张鑫 .
中国专利 :CN118130473A ,2024-06-04
[2]
瑕疵检测系统及检测方法 [P]. 
王文进 ;
甄明吉 ;
王鹏飞 ;
王军舰 ;
王波 ;
姜超 ;
孙智宏 ;
李晓君 .
中国专利 :CN117330577A ,2024-01-02
[3]
瑕疵检测方法及瑕疵检测装置 [P]. 
庄承翰 .
中国专利 :CN113552130A ,2021-10-26
[4]
瑕疵检测方法、瑕疵分类方法及其系统 [P]. 
林晏全 .
中国专利 :CN114226262A ,2022-03-25
[5]
转子瑕疵检测系统及检测方法 [P]. 
李建亚 ;
汪小庆 ;
周永志 .
中国专利 :CN118032770A ,2024-05-14
[6]
瑕疵检测系统及方法 [P]. 
苏瑞尧 ;
钟裕亮 ;
王俊杰 ;
吴建峰 ;
刘彦辰 .
中国专利 :CN102346171B ,2012-02-08
[7]
瑕疵检测方法、瑕疵检测设备及存储介质 [P]. 
庄志远 .
中国专利 :CN119827498A ,2025-04-15
[8]
瑕疵检测系统与混合瑕疵训练方法 [P]. 
林志伟 ;
戴加奇 ;
沈威政 .
中国专利 :CN118154494A ,2024-06-07
[9]
基于机器视觉的瑕疵检测装置及膜产品瑕疵检测方法 [P]. 
葛铭 ;
郑智文 ;
沈井学 ;
李晖 ;
洪翔益 .
中国专利 :CN114740011A ,2022-07-12
[10]
基于机器视觉的瑕疵检测装置及膜产品瑕疵检测方法 [P]. 
葛铭 ;
郑智文 ;
沈井学 ;
李晖 ;
洪翔益 .
中国专利 :CN114740011B ,2025-06-20