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瑕疵检测方法、瑕疵检测设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311287786.5
申请日：
2023-10-07
公开(公告)号：
CN119827498A
公开(公告)日：
2025-04-15
发明(设计)人：
庄志远
申请人：
鸿海精密工业股份有限公司
申请人地址：
中国台湾新北市土城区中山路66号
IPC主分类号：
G01N21/88
IPC分类号：
G01N21/01 G01N1/34
代理机构：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人：
饶智彬
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-02 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20231007
2025-04-15 公开 公开
共 50 条
[1]
瑕疵检测方法、检测设备及存储介质 [P]. 
毛蕊蕊 ;
杨彦利 ;
朱成波 ;
杨钊 ;
杨文静 .
中国专利 :CN120746926A ,2025-10-03
[2]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
吴阳臻 ;
林泽城 .
中国专利 :CN116579986B ,2025-10-31
[3]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
简士超 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN117333416A ,2024-01-02
[4]
镜片瑕疵检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
任杰 .
中国专利 :CN115082416A ,2022-09-20
[5]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
卢志德 ;
林子甄 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN115482186A ,2022-12-16
[6]
瑕疵检测系统及瑕疵检测方法 [P]. 
胡叶岑 ;
苏啸 ;
倪浩天 ;
陈晓燕 ;
张鑫 .
中国专利 :CN118130473A ,2024-06-04
[7]
瑕疵检测方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
汤寅航 ;
林国森 .
中国专利 :CN112446864A ,2021-03-05
[8]
瑕疵检测方法及瑕疵检测装置 [P]. 
庄承翰 .
中国专利 :CN113552130A ,2021-10-26
[9]
瑕疵检测方法、电子装置及存储介质 [P]. 
林子甄 ;
蔡东佐 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN114943674A ,2022-08-26
[10]
瑕疵检测方法、电子装置及存储介质 [P]. 
林子甄 ;
蔡东佐 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN114943674B ,2025-07-25
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