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瑕疵检测方法、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202310395193.4
申请日：
2023-04-13
公开(公告)号：
CN116579986B
公开(公告)日：
2025-10-31
发明(设计)人：
吴阳臻 林泽城
申请人：
三固（厦门）科技有限公司
申请人地址：
361026 福建省厦门市海沧区新阳街道阳光西二路30号
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/11 G06V10/764 G06V10/774
代理机构：
成都维企专利代理有限公司 51345
代理人：
汪任飞
法律状态：
授权
国省代码：
福建省 厦门市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-10-31 授权 授权
共 50 条
[1]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭锦斌 ;
蔡东佐 ;
简士超 .
中国专利 :CN114663334A ,2022-06-24
[2]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭锦斌 ;
蔡东佐 ;
简士超 .
中国专利 :CN114663334B ,2025-05-23
[3]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
简士超 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN117333416A ,2024-01-02
[4]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
卢志德 ;
林子甄 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN115482186A ,2022-12-16
[5]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李元旖 .
中国专利 :CN117952986A ,2024-04-30
[6]
产品瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
孙国钦 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN117333417A ,2024-01-02
[7]
图像瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114943671A ,2022-08-26
[8]
图像瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114943671B ,2025-06-03
[9]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李元旖 .
中国专利 :CN117952986B ,2024-05-28
[10]
瑕疵检测方法及装置、电子设备及存储介质 [P]. 
卢志德 ;
郭锦斌 ;
李宛真 .
中国专利 :CN116416190B ,2025-07-01
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