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瑕疵检测方法及装置、电子设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111663831.3
申请日：
2021-12-31
公开(公告)号：
CN116416190B
公开(公告)日：
2025-07-01
发明(设计)人：
卢志德 郭锦斌 李宛真
申请人：
鸿海精密工业股份有限公司
申请人地址：
中国台湾新北市土城区中山路66号
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/90 G06T7/62 G06T5/40 G06T5/50
代理机构：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人：
彭辉剑
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-07-01 授权 授权
共 50 条
[1]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭锦斌 ;
蔡东佐 ;
简士超 .
中国专利 :CN114663334A ,2022-06-24
[2]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李元旖 .
中国专利 :CN117952986A ,2024-04-30
[3]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭锦斌 ;
蔡东佐 ;
简士超 .
中国专利 :CN114663334B ,2025-05-23
[4]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李元旖 .
中国专利 :CN117952986B ,2024-05-28
[5]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
简士超 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN117333416A ,2024-01-02
[6]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
吴阳臻 ;
林泽城 .
中国专利 :CN116579986B ,2025-10-31
[7]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
卢志德 ;
林子甄 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN115482186A ,2022-12-16
[8]
图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨荣浩 ;
郭锦斌 ;
卢志德 ;
林子甄 ;
李宛真 ;
王薇钧 .
中国专利 :CN114764765A ,2022-07-19
[9]
图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭锦斌 ;
蔡东佐 ;
简士超 .
中国专利 :CN114881913A ,2022-08-09
[10]
图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭锦斌 ;
蔡东佐 ;
简士超 .
中国专利 :CN114881913B ,2025-06-10
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