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瑕疵检测方法、电子设备及存储介质

被引：0
申请号：
CN202110662821.1
申请日：
2021-06-15
公开(公告)号：
CN115482186A
公开(公告)日：
2022-12-16
发明(设计)人：
卢志德 林子甄 郭锦斌
申请人：
申请人地址：
518109 广东省深圳市龙华新区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋(Ⅰ段)
IPC主分类号：
G06T700
IPC分类号：
G06V1025 G06T712 G06T713
代理机构：
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人：
曹曦
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-12-16 公开 公开
2023-01-03 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210615
共 50 条
[1]
产品瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
孙国钦 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN117333417A ,2024-01-02
[2]
图像瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114943671A ,2022-08-26
[3]
图像瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 ;
简士超 .
中国专利 :CN114943671B ,2025-06-03
[4]
图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨荣浩 ;
郭锦斌 ;
卢志德 ;
林子甄 ;
李宛真 ;
王薇钧 .
中国专利 :CN114764765A ,2022-07-19
[5]
图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭锦斌 ;
蔡东佐 ;
简士超 .
中国专利 :CN114881913A ,2022-08-09
[6]
图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭锦斌 ;
蔡东佐 ;
简士超 .
中国专利 :CN114881913B ,2025-06-10
[7]
图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
简士超 ;
郭锦斌 ;
蔡东佐 .
中国专利 :CN114943672A ,2022-08-26
[8]
图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
简士超 ;
郭锦斌 ;
蔡东佐 .
中国专利 :CN114943672B ,2025-09-23
[9]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
简士超 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN117333416A ,2024-01-02
[10]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
吴阳臻 ;
林泽城 .
中国专利 :CN116579986B ,2025-10-31
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