瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011524958.2
申请日
2020-12-22
公开(公告)号
CN114663334B
公开(公告)日
2025-05-23
发明(设计)人
郭锦斌 蔡东佐 简士超
申请人
富泰华工业(深圳)有限公司 鸿海精密工业股份有限公司
申请人地址
518109 广东省深圳市龙华新区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋(Ⅰ段)
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06N3/0455 G06N3/047 G06N3/08 G06N7/01
代理机构
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人
刘丽华
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
郭锦斌 ;
蔡东佐 ;
简士超 .
中国专利 :CN114663334A ,2022-06-24
[2]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
简士超 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN117333416A ,2024-01-02
[3]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
吴阳臻 ;
林泽城 .
中国专利 :CN116579986B ,2025-10-31
[4]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李元旖 .
中国专利 :CN117952986A ,2024-04-30
[5]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李元旖 .
中国专利 :CN117952986B ,2024-05-28
[6]
瑕疵检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
卢志德 ;
林子甄 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN115482186A ,2022-12-16
[7]
瑕疵检测方法及装置、电子设备及存储介质 [P]. 
卢志德 ;
郭锦斌 ;
李宛真 .
中国专利 :CN116416190B ,2025-07-01
[8]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
王薇钧 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN114862740A ,2022-08-05
[9]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈怡桦 ;
蔡东佐 ;
郭锦斌 ;
林子甄 .
中国专利 :CN114764774A ,2022-07-19
[10]
瑕疵检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
王薇钧 ;
郭锦斌 .
中国专利 :CN114862740B ,2025-09-02